PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Metrology and Measurement Systems
Autorzy help
  1. 1 Chrzanowski Krzysztof
Lata help
  1. 1 2025
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  3D noise
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Critical review of present-day methodology of thermal imager noise characterization
Chrzanowski Krzysztof
Metrology and Measurement Systems
|
2025
|
Vol. 32, nr 2
1--21
EN
This paper presents a review of reasons that create metrological chaos in the field of characterization of noise in thermal imagers. In detail, the paper presents a critical review of myriads of past and present-day definitions/measurement methods of noise parameters of thermal imagers that create this chaos and significantly reduce reproducibility of measurement of noise parameters carried out by different test teams.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.