Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: źródło zakłóceń

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Koncepcja testowania łączników, umożliwiająca określenie ich właściwości, jako elementów wpływających na generację zakłóceń elektromagnetycznych w układach elektronicznych

Ruszel P.

Przegląd Elektrotechniczny

2009

R. 85, nr 6

191-194

W opracowaniu omówiono koncepcję testowania elektromechanicznych i elektronicznych podzespołów realizujących funkcję łączników (kluczy elektrycznych). Umożliwia ona określenie właściwości tych podzespołów jako elementów wpływających na powstawianie zakłóceń elektromagnetycznych układach elektronicznych. Zaprezentowano również wyniki pomiarów, wykonanych przez autora, w układzie działającym według omówionej koncepcji.

In the paper idea of testing electromechanical and semiconductors components which play a role of connectors (electric switches) in the electronic circuits have been discussed. This concept enables to determine these components as elements that influence the electromagnetic interferences formation in electronic circuits. Furthermore, the results of the tests, performed by the paper's author, carried out in the circuit operating according to the discussed concept, being presented in the paper.