PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  źródła błędów
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Źródła niewiarygodności pomiarów topografii powierzchni
Miller T.
Mechanik
|
2016
|
R. 89, nr 11
1722--1723
PL
Przedstawiono zakłócenia, jakie mogą wystąpić w pomiarach topografii powierzchni, w szczególności w układzie pomiarów 3D oraz w przetwarzaniu danych z pomiarów w programach do analizy. Przedstawiono strukturę źródeł błędów w podziale na kategorie związane z różnymi elementami procesu pomiarowego.
EN
The paper presents threats that may occur in the surface topography measurements, in particular in the 3D measurement and processing of the measured data in analysis applications. The structure of the sources of errors by categories related to the different elements of the measurement process was presented.
2
Content available System akwizycji danych i model wzorca do weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego
Potyrański P., Dorozhovets M.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2006
|
R. 52, nr 12
26-29
PL
W artykule przedstawiono praktyczne rozwiązanie i wyniki badań systemu akwizycji danych i metody metrologicznej weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego. Metoda weryfikacji oparta jest na zastosowaniu wzorca (symulującego rozkład rezystywności) złożonego z sieci elementów dyskretnych - rezystorów i kondensatorów. Proponowana metoda pozwala na weryfikację dokładności, selektywną lub sumaryczną, elementów systemu tomograficznego.
EN
In this paper the accuracy verification technique and the data acquisition system are proposed and investigated. The verification method is based on the reference model of conductivity distribution. The reference model is constructed as a network of the discrete resistors and capacitors. Proposed technique permits to verify (jointly or separately) the data acquisition system, reconstruction algorithm and approximation effects. The reference network parameters and the stages of the verification are described.
3
Analityka śladów - wyzwania i problemy
Namieśnik J.
Chemia i Inżynieria Ekologiczna
|
2002
|
Vol. 9, nr 9
991-998
PL
Przedstawiono główne źródła błędów w analityce składników śladowych i ultraśladowych obecnych w próbkach o złożonym składzie matrycy. Szczególną uwagę zwrócono na: - klasyfikację metod i technik ze względu na stężenie analitu w badanej próbce; - jednostki używane do wyrażania stężeń składników śladowych; - etapy przygotowania próbek do oznaczeń końcowych; - sposoby eliminacji lub zmniejszenia intensywności wpływu różnych czynników na zmiany stężenia analitu w próbce.
EN
Main sources or errors in analysis or trace components presents in samples characterized by complex matrix have been described. The special attention is drawn to - classification or methods and techniques with respect to the concentration or analyte in a sample; - unites used to express the concentration or trace components; - steps or sample preparation process; - ways or elimination or at least reduction or intensity or influence various parameters on sample stability and integrity.
4
Problemy z obliczaniem współczynnika przenikania ciepła
Płazak A.
Warstwy
|
2000
|
nr 3
118-119
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.