Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiar charakterystyk statycznych z wykorzystaniem interfejsu szeregowego i karty przetworników analogowo - cyfrowych

Noga K., Przytarski G.

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej

1999

nr 13

111-119

Niniejsze opracowanie jest uzupełnieniem referatu przedstawionego w ramach seminariów zorganizowanych przez PTETiS w Gdańsku w 1998 roku. Zamieszczono w nim opis nowych funkcji programu do badania podstawowych charakterystyk statycznych wybranych elementów półprzewodnikowych z wykorzystaniem karty przetworników AC/CA.

In the paper is presented software which enable to check the electrical static characteristics of followng elements: diodes, Zeer diodes, unipolar and bipolar transistors, TTL and CMOS NAND gates. Tested elements are connected to computer by means of serial interface and data acquisition board.

Komputerowe określanie podstawowych charakterystyk wybranych elementów półprzewodnikowych.

Noga K., Przytarski G.

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej

1998

nr 12

121-128

Program do określania wybranych charakterystyk podstawowych elementów półprzewodnikowych umożliwia badanie następujących elementów półprzewodnikowych: ramki NAND, bramki OPEN COLLECTOR, diody prostowniczej, Zenera, tranzystorów bipolarnych, polowych. Charakterstyki rejestrowane są za pomocą dwóch mierników typu METEX połączonych z komputerem poprzez porty szeregowe. Rejestracja odbywa się metodą statyczną, to jest tzw. metodą punk po punkcie. Program jest rozbudowanym narzędziem do rejestracji i graficznego przedstawiania danych pomiarowych. Zawarte w nim funkcje pozwalają sporządzać wykresy, zapisywać je w postaci wydruków lub zbiorów dyskowych.