Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Prace Naukowe Instytutu Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

1 2000

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Termograficzny system dalekiego i bliskiego pola

Szeloch R., Gotszalk T., Radojewski J., Janus P., Orowski W., Pędrak R., Gumienny Z.

Prace Naukowe Instytutu Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

2000

Vol. 37, nr 12

221-225

Opracowano system termograficzny dla obserwacji próbek o rozmiarach milimetrowych zawierających struktury mikro i nanometrowe. Opcja dalekiego pola wyposażona jest w fotowoltaiczny czujnik podczerwieni pracujący w paśmie 3-12 nm co umożliwia rejestrację niewielkich gradientów temperatury oraz ułatwia rozpoznanie lokalnych niejednorodności i defektów. System umożliwia regulację i stabilizację temperatury stolika pomiarowego oraz dokonywanie, w czasie pomiarów zanim tejże temperatury według określonej funkcji czasowej. Również napięcia polaryzacji i wejściowe sygnały dochodzące do badanych obiektów mogą być kontrolowane w systemie np. Test Point lub LabView. Taki sposób pracy umożliwia pomiary zarówno amplitudowych jak i fazowych sygnałów termicznych a co za tym idzie system rozpoznaje stan nie tylko powierzchni, lecz również (tzw. opcja lock-in) przypowierzchniowej części wnętrza badanej próbki.

Combined far-field and near-field thermographic system is presented. Due to wide band infrared detector and two versions of optical sets of the system we are able to detect small temperature gradients. One of these optical sets consists of Zn Se lenses and the second includes the mirror-like optical set. System allows stage temperature regulation and stabilisation according to determined function. System also controls sample voltage signals with TestPoint or LabView software. This procedure allows us to measure amplitude and detect inhomogeneity under surface of the sample.