Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania x (GIXA) do badań układów cienkowarstwowych

Mietniowski P., Powroźnik W., Kanak J., Stobiecki T., Kuświk P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 1

48-51

Niskokątowa analiza promieniowania X (GIXA: Grazing Incidence X-Ray Analysis) w badaniach niniejszej pracy jest kombinacją pomiarów reflektometrycznych (XRR: X-Ray Reflectivity) i kątowej zależności fluorescencji promieniowania X (AD-XRF: Angle-Dependent X-Ray Fluorescence). Metoda XRR jest powszechnie stosowaną techniką pomiarów grubości i szorstkości cienkich warstw. Pomiary XRR i AD-XRF wykonano na dyfraktometrze firmy Philips X'Pert MPD. W przypadku pomiarów AD-XRF został zastosowany chłodzony ciekłym azotem detektor Si(Li) firmy Canberra. Wykonano pomiary dla układów wielowarstwowych [Ni80Fe20/Au] ×15 i [Ni80Fe20/Au/Co/Au] ×10. Stwierdzono występowanie charakterystycznych maksimów braggowskich na krzywej XRR i maksimów interferencji fali stojącej krzywej AD-XRF odpowiadających grubościom periodów NiFe+Au dla pierwszego i NiFe+Au+Co+Au dla drugiego układu wielowarstwowego. Dla obu metod otrzymano dobrą zgodność wyników pomiaru grubości poszczególnych warstw składowych badanych układów.

Grazing Incidence X-Ray Analysis (GIXA) is a non-destructive technique and has the potential to be powerful and versatile analytical method because it combines X-ray reflectivity (XRR) and angle-dependent X-ray fluorescence (AD-XRF). XRR is well-known method for the determination of thickness, surface and interface roughness of thin layers and multilayer systems. A complementary technique is AD-XRF, with which the compositional depth profile of the layered materials can be determined. The measurements of XRR and AD-XRF were performed on Philips X'Pert diffractometer. In the case of AD-XRF, the liquid-N2 cooled Si-Li Canberra detector was installed in order to measure the energy spectrum of X-ray fluorescence radiation from the multilayer sample. We applied these techniques for study the profiles of XRR and AD-XRF spectra of the periodic multilayer systems of [NiFe/Au] ×15 and [Ni80Fe20/ Au/Co/Au] × 10. Characteristic Bragg diffraction maxima of XRR curve and maxima of standing wave interferences in AD-XRF curves corresponding to the thickness of superlattice periods: Ni80Fe20+Au for the first and Ni80Fe20+Au +Co+Au for the second multilayer system. For both methods a good agreement of thickness measurements were obtained.

Magnetic properties of (Co/Au)N multilayers with various numbers of repetition N

Mazalski P., Sveklo I., Tekielak M., Kolendo A., Maziewski A., Kuświk P., Szymański B., Stobiecki F.

Materials Science Poland

2007

Vol. 25, No. 4

1289--1294

Magnetization reversal processes and magnetic domain structures have been studied in multilayered systems consisting of magnetostatically coupled cobalt layers separated by non-magnetic/soft-magnetic ones. Observations of the domain structures have been performed at room temperature using Kerr microscopy and magnetic force microscopy technique. The studies have been focused on the key characteristics of magnetic hysteresis loops as well as the domain structures and domain periods in such systems.