W artykule opisano problematykę konstruowania filtrów EMI o szerokim paśmie filtracji. Przedstawiono rodzaje zakłóceń jakie występują w urządzeniach elektronicznych. Na przykładowym schemacie przedstawiono elementy odpowiedzialne za filtracje konkretnego typu zakłócenia. Omówiono problematykę wpływu reaktancji pasożytniczych na pojawiające się rezonanse w charakterystyce filtru. Zwrócono uwagę na wpływ impedancji źródła i obciążenia na wartość tłumienia. Na przykładowym pomiarze S21 pokazano wpływ prądu stałego płynącego przez filtr na indukcyjność dławika, a w konsekwencji tłumienie filtra. Zwrócono uwagę na problem sprzęgania się elementów indukcyjnych.
EN
The article describes the problems of constructing wideband EMI filters. The types of interferences that occur in electronic devices are presented. The exemplary diagram shows the elements responsible for the filtration of a specific type of disturbance. The problem of the influence of parasitic reactances on resonances appearing in the filter characteristics is discussed. The attention was paid to the influence of the source and load impedance on the insertion loss value. The example of S21 measurement shows the effect of DC current flowing through the filter on the inductor inductance and, consequently, filter suppression. Attention was paid to the problem of coupling of inductive elements.
W artykule przedstawiono analizę diagnostyczno–niezawodnościową szyfratora IP. W tym celu zdefiniowano strukturę fizyczną i funkcjonalną urządzenia. Przedstawiono procesy autodiagnostyczne zachodzące w trakcie jego pracy. Zdefiniowaną strukturę zdekomponowano na moduły a następnie na zbiory elementów elektronicznych, dla których obliczono lub odczytano z dokumentacji wskaźniki niezawodnościowe. Przeprowadzono analizę niezawodnościową dla wyróżnionych modułów, a następnie dla całego urządzenia. Przeprowadzono to z uwzględnieniem różnych struktur niezawodnościowych i temperatur pracy. Znaleziono moduł o najniższej niezawodności i zaproponowano zastosowanie rezerwy nieobciążonej jako sposobu na zwiększenie niezawodności użytkowej urządzenia.
EN
The article presents diagnostic and reliability analysis of the IP encryption device. For purposes of analysis, the physical and functional structure of the device was defined. Autodiagnostic processes occurring during his work were presented. The defined structure was decomposed into modules and then into sets of electronic components for which reliability indexes were calculated or read from the datasheet. The issues of device reliability in relation to the reliability of electronic components were discussed. A reliability analysis was carried out for all modules, and then for the entire device, taking into account various reliability structures and operating temperatures. The module with the lowest reliability was found and it was proposed to use the unloaded reserve as a method to increase device reliability.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.