Concurrent fault testing is mandatory in critical embedded systems like automobile applications. Architectures of concurrent testing are proposed in the present work, where testing is non-intrusive. The concept that embedded program has several tasks is exploited here. The hardware overhead of the test architecture implemented on the controller of OC8051 is minimal. It is easily scalable. Error detection latency is kept at a few cycles and cumulative functional error coverage is 100%. The architectures are compared with the best of the existing methods.
PL
Współbieżne testowanie jest często obowiązkowe w systemach wbudowanych. W artykule zaprezentowano architektury tego typu systemów gdzie wbudowany program wykonuje wiele zadań. Analizowano opóźnienie w wykrywaniu błędów oraz uwarunkowania sprzętowe.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.