PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni
Karpiński T., Łukianowicz C., Łukianowicz T.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2000
|
R. 46, nr 5
27-30
PL
W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierównosci powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji systemu pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowywane w celu analizy topografii powierzchni.
EN
In the paper computerized stand for a measurement and analysis of surface profile is described. This stand contains stylus instrument, microcomputer, system of acquire of measuring signal and software. Software for MS Windows was works out using Borland Delphi. Using this stand , three-dimensional imaging od surface roughness is possible.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.