Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2014

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Kompensacja dryfu w skaningowym mikroskopie tunelowym przeznaczonym do badań nanostruktur grafenowych FoMaMet

Gajewski K., Kramek R., Kopiec D., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2014

Vol. 55, nr 10

19-22

W pracy przedstawiono problem dryfu występującego w skaningowym mikroskopie tunelowym (STM). Dryf ten występuje w osiach X, Y oraz Z. Na przykładzie pomiarów wysokozorientowanego grafitu pyrolitycznego omówiono jego wpływ na pracę mikroskopu, oraz możliwe zakłócenia procedury pomiarowej. Zaproponowano modyfikację konstrukcji mikroskopu STM tak, aby negatywny wpływ dryfu w osi Z uległ minimalizacji. W tym celu wykonano i zaprezentowano konstrukcję precyzyjnego układu elektronicznego z precyzyjnym przetwornikiem cyfrowo-analogowym i porównano go z dostępnym rozwiązaniem komercyjnym. Przedstawiono również możliwości rozszerzenia opracowanego systemu.

In this work drift issues appearing in scanning tunneling microscope (STM) was discussed. This drift appears in X, Y and Z axis. Based on measurements of the highly oriented pyrolytic graphite its influence on the work of the microscope and possible disturbances of the measurement procedure was described. Modification of the construction of the STM microscope minimizing the negative impact of the drift in Z axis was proposed. To do that a precise electronic circuit based on precise digital-to-analog converter was developed and it was compared with available commercial solution. At the end possibilities of the expansion of the realized system was shown.