PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Ablacja polikryształów CR2TE3 z wykorzystaniem lasera ND3+:YAG
Wisz G., Barwiński M., Sagan P., Kuźma M.
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
|
2014
|
nr 3
27--30
PL
W pracy badano proces laserowej ablacji Cr2Te3: dla potrzeb nanoszenia cienkich warstw tego materiału metodą impulsowego osadzania laserowego (PLD). Target przygotowano w formie sprasowanej pastylki z proszkowego Cr2Te3 domieszkowanego proszkowym Zn. Do odparowania tarczy zastosowano promieniowanie lasera ND3+:YAG o długości impulsu 20 ns i gęstości energii 16 J/cm2 oraz 34 J/cm2. Metodą EDX zbadano skład powierzchni targetu po ablacji. Stwierdzono nadmiar chromu co wskazuje na jego słabą desorpcję przy zastosowanych parametrach ablacji.
EN
In the paper, the process of laser ablation of Cr2Te3 has been studied in the respect of its application to thin solid films deposition of this material in the pulsed laser deposition (PLD) technology. Target has been prepared in the shape of pressed tablet from powder Cr2Te3. The energy density of the ND3+:YAG laser beam were 16 J/cm2 and 34 J/cm2 and the time of laser pulse was 20 ns. The composition of the surface layer of the target after ablation has been measured using EDX method. The excess of chromium in respect to it amount in initial composition has been measured. This result points on the weak desorption of this component at the ablation parameters applied.
2
Content available remote Pomiar rozmiaru nanocząstek metodą dyfrakcji elektronowej
Sagan P., Kuźma M.
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
|
2011
|
nr 1
18-20
PL
Zastosowano dopasowanie krzywych Lorentza do profilu linii dyfrakcyjnych dyfrakcji elektronowej otrzymanej z cienkiej warstwy CdCrTe uzyskanej metodą PLD. Krzywe te zostały dopasowane do krzywej eksperymentalnej za pomocą programu FITYK. Z szerokości linii wyznaczono rozmiar krystalitów który wynosi 60-143 ?. Przedstawiono dokładność metody w przypadku na materiałów nanostrukturalnych.
EN
We study the Lorentzian profiles of Debay rings in THEED patterns of thin CdCrTe solid films obtained by PLD. The diffraction lines were adjusted to the experimental patterns using FITYK software. The line widths measured provide crystallite size being between 60 - 143 ? . The accuracy of the method in respect to nanostructured materials characterization is addressed.
3
Content available remote Struktura cienkich warstw CdHgTe otrzymywanych metodą laserowej ablacji
Sagan P., Zawiślak J., Kuźma M.
Krzepnięcie Metali i Stopów
|
2000
|
R. 2, nr 42
227--231
PL
Metodą dyfrakcji elektronowej badano struktury warstw CdHgTe w różnych stadiach wzrostu. Warstwy otrzymywano metodą laserowego napylania. Struktura warstw cienkich wyraźnie odróżnia się od struktury warstw grubych, co daje pewne informacje o dynamice wzrostu.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.