Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

The use of Gage R&R in suitability analysis of a CMM used at FAMOT Pleszew

Michalski R., Wieczorowski M., Gapiński B., Glazowski P.

Archives of Mechanical Technology and Materials

2020

Vol. 40

1--6

The subject of the article is the suitability analysis of a measuring system, specifically the Zeiss MMZ T 20 30 16 coordinate-measuring machine utilizing an extended procedure. The article outlines the measurement preparation process and presents the research station as well as the procedure for determining Repeatability & Reproducibility (R&R).

Wpływ błędu MPEE na dokładność pomiaru współrzędnościowej maszyny pomiarowej

Michalski R., Glazowski P.

Stal, Metale & Nowe Technologie

2018

nr 11-12

49--52

W artykule przedstawiono proces sprawdzenia błędów MPEE maszyn współrzędnościowych oraz przeprowadzono analizę ich odchyłek w celu określenia, czy parametr ten powinien być wiodącym czynnikiem przy wyborze maszyny współrzędnościowej. Proces pomiaru oparto na normie ISO 10360-2, program przygotowano w środowisku ZEISS CALYPSO. Jako wzorzec zastosowano liniał stopniowy typu „ITS step” certyfikowany świadectwem DKD. Badania przeprowadzono na trzech WMP: • Zeiss MMZ T 20 30 16 S-ACC, • Zeiss Prismo Navigator 10 MASS S-ACC, • Zeiss Accura II 10 MASS.

The topic of the article is the analysis of the influence of the MPEE error on the actual accuracy of measurements performed on the selected coordinate measuring machines (CMM). The process of MPEE error checking in coordinate measuring machines is described and the analysis of its deviations is conducted in order to determine whether this parameter should be a key factor in choosing a proper coordinate measuring machine. The measurement process was based on ISO 10360-2 and the programme was prepared in ZEISS CALYPSO. A straightedge „ITS step” certificated by DKD has been used as an example. The tests were performed on three CMM’s: • Zeiss MMZ T 20 30 16 S-ACC, • Zeiss Prismo Navigator 10 MASS S-ACC, • Zeiss Accura II 10 MASS.