Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Estimation of shape of AFM tip with “Cross-Forrest” calibration standard

Jóźwiak G., Moczała-Dusanowska M., Gajewski K., Sierakowski A., Wójcicki P.

Journal of Machine Construction and Maintenance - Problemy Eksploatacji

|

2018

|

no. 4

41--46

EN

The “Cross-Forrest” tip shape calibration standard for regularized blind tip reconstruction has been fabricated and investigated. The confirmation of previously reported theoretical findings is shown. However, the KSVD-OMP algorithm of images denoising has been extended by additional group sparsity penalty and Shi Tomasi corner detection algorithm with 100 nm size window for cross concave corners needed to be applied. The comparison of SEM direct tip imaging with 3D shapes reconstructed on the basis of filtered and unfiltered AFM images are shown and the qualitative agreement has been confirmed. The optimization of fabrication technology of “Cross-Forrest” structure is required to allow quantitative tip shape measurements. It should limit the uncertainty of the initial shape of an AFM tip, and the resulting uncertainty of final shape which is the improved version of the initial one.

PL

Wykonano i zbadano strukturę „Cross-Forrest” służącą do kalibracji kształtu ostrza metodą regularyzowanej ślepej rekonstrukcji. Potwierdzono prezentowane w literaturze wyniki teoretyczne. Wymagało to jednak rozszerzenia algorytmu filtracji obrazów KSVD-OMP o dodatkową funkcję kary w postaci wskaźnika grupowej rzadkości reprezentacji oraz zastosowania algorytmu Shi-Tomasiego z 100 nm oknem do detekcji wklęsłych narożników krzyża. Porównano obrazy SEM ostrzy z ich trójwymiarowymi rekonstrukcjami kształtu i potwierdzono zgodność jakościową. Do uzyskania zgodności ilościowej niezbędna jest jednak optymalizacja technologii wykonania struktur „Cross-Forrest”, która pozwoli ograniczyć niepewność oszacowania kształtu początkowego ograniczającą niepewność oszacowania kształtu finalnego.

2

Simultaneous HPLC determination of pomolic, ursolic and euscaphic/tormentic acids in roots and rhizomes of various Potentilla species

Jóźwiak A., Jóźwiak G., Waksmundzka-Hajnos M.

Acta Chromatographica

|

2014

|

Vol. 26, no. 1

97--110

EN

A reversed-phase high-performance liquid chromatography diode array detector (HPLC-DAD) method was developed for the separation of triterpene acids and their determination in crude extracts of Potentilla species. Symmetry octadecylsilyl silica (ODS) column with acetonitrile and water with phosphoric acid (pH = 2.5) as the mobile phase was used in the described HPLC system. The column temperature was at 20 °C, the flow rate was 0.8 mL/min. The detection wavelength was 210 nm. For quantitative purposes, the linear dependencies of analyte concentration and peak surface area were obtained with regression coefficient values 0.9983 < r2 < 0.9995. For euscaphic acid, calibration was performed in the range of 0.07–0.525; 0.7–2.1 mg/mL, for pomolic acid in the range of 0.019–0.171; 0.209–0.665 mg/mL, for ursolic acid in the range of 0.2–1.375–3.3 mg/mL. The observed recovery of triterpene acids was from 95.3% to 103.1%. The observed values of RSD were well within the generally acceptable limit of no more than 5%. This method was successfully applied to quantify pomolic acid (PA), ursolic acid (UA) and the sum of euscaphic (EA) and tormentic acids (TA) (expressed as euscaphic acid) in roots and rhizomes of 15 various Potentilla species and 2 subspecies (i.e., P. atrosanguinea, P. recta).

3

Pomiar szumów piezorezystywnych przetworników mikromechanicznych

Kopiec D., Nieradka K., Rudek M., Gajewski K., Sierakowski A., Grabiec P., Jóźwiak G., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 10

51-55

PL

W pracy przedstawiono piezorezystywne mikromechaniczne przetworniki siły oraz zmian masy wykonane technologiami mikroelektronicznymi. Przedstawiona została ich zasada działania, główne źródła szumów występujących w tego rodzaju elementach oraz konstrukcja wzmacniacza do pomiaru szumów występujących w prezentowanych układach mikromechanicznych. Zaprezentowano także sposób doboru wzmacniaczy operacyjnych ze względu na poziom szumu występującego w systemie pomiarowym.

EN

In this paper we present micromechanical force and mass change transducer with integrated piezoresistive deflection sensor made with use of microelectronic technology. We present the principles of operation of these transducers and identified the main sources of noise that occur in this type of elements. Amplifier design is presented for the measurement of low-frequency noise and selection method of operational amplifiers because of the noise present in the measurement system.

4

Wybrane zagadnienia metrologii mikro- i nanostruktur

Gotszalk T., Jóźwiak G., Kowalski Z., Nitsch K., Piasecki T., Radojewski J., Sankowska A., Serafińczuk J., Szecówka P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2012

|

Vol. 53, nr 2

40-47

PL

W artykule przedstawione zostały metody i techniki badań materiałów stosowanych we współczesnej mikro- i nanoelektronice oraz konstruowanych obecnie przyrządów i podzespołów. Metody bazujące na spektroskopii impedancyjnej, skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii bliskich oddziaływań, technikach jonowych, dyfraktometru rentgenowskiej, optoelektronice i technice światłowodowej, przetwarzaniu sygnałów i cyfrowych układach sterujących są rozwijane w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur od 2006. Dzięki integracji wspomnianych technik i ich odmian, dodatkowo z wykorzystaniem układów mikroelektromechanicznych, możliwe jest rozwiązanie wielu problemów, stojących przed współczesną metrologią mikro- i nanostruktur.

EN

In this paper, new methods of investigation of novel materials used and new tools and systems constructed in the course of the development of micro- and nanotechnology. Methods based on impedance spectroscopy, scanning electron microscopy, scanning probe microscopy, ion techniques, X-ray diffraction, optoelectronics and fiber techniques, signal processing and digital control devices have been developed in the Division of Metrology of Micro- and Nanostructures since 2006. By combining above-mentioned methods and their variations and including usage of microelectromechanical systems it is possible to solve various problems of modern metrology of micro- and nanostructures.

5

Układ lock-in z cyfrową syntezą częstotliwości w technice FPGA

Szecówka P. M., Zając M., Gotszalk T. P., Zielony M., Jóźwiak G., Stania R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 10

120-122

PL

Opisano własną konstrukcję komputerowo sterowanego układu lock-in. Kluczowe elementy - detektor fazy i generator częstotliwości odniesienia wykonano w technice cyfrowej, w oparciu o język VHDL i programowalne układy logiczne FPGA. Przebiegi sinusoidalne generowano za pomocą rozwinięcia w szereg Maclaurina. Pokazano, że przy wydłużonym czasie zbierania próbek i uśrednianiu wyników można przeprowadzić analizę rezonatora 32 kHz pomimo zastosowania przetworników A/C i C/A o niewiele większych częstotliwościach próbkowania.

EN

In-house developed, computer-controlled lock-in system is presented. Crucial elements - phase detector and direct digital synthesizer were based on digital technique (VHDL and FPGA). Sine signals are generated in real time by Maclaurin series approximation. It was shown that for extended time of samples collection, resonant frequency of 32 kHz oscillator may be measured, in spite of applying A/D and D/A converter working with sampling rate only silghtly exceeding the measured frequency.

6

Analiza obrazów powierzchni w mikroskopii bliskich oddziaływań

Jóźwiak G., Gotszalk T.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2010

|

R. 56, nr 1

46-47

PL

W pracy przedstawiono wybrane metody analizy powierzchni (ISO 25178) wskazując na rodzaj informacji, jaką można za pomocą danej metody uzyskać. Opisywane algorytmy i procedury zostały zaimplementowane w opracowanym w Wydziałowym Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur Politechniki Wrocławskiej programie TOPOGRAF. W pracy zaprezentowano przykładowe wyniki działania zaimplementowanych algorytmów i procedur.

EN

Progress in the scanning probe microscopy makes it become a much more common tool. In the paper the principle of operation of the scanning probe microscope is presented. It is emphasized that the measurement result is an image of the investigated surface. Two groups of parameters connected with lateral properties of the tested surface image are introduced. The first group of parameters is connected with the image autocorrelation function and two dimensional Fourier transform. The texture aspect ratio and surface autocorrelation length (Fig. 1) are given as examples of the autocorrelation parameters. The second group of parameters is related to the so called 3D motif analysis. At the first stage of this analysis the image is segmented by means of the watershed segmentations algorithm. At the second stage the statistics connected with the shape and dimensions of the segments are calculated. The segmentation algorithm as well as the parameters describing shape and dimensions of segments (Fig 2) are presented in the paper. Due to the quantum nature of the micro- and nano-world, the uncertainty of products of the micro and nanotechnology will always be greater than that of products of the conventional technology. For this reason there is strong demand for flexible techniques capable of handling this increased uncertainty. The 3D motif analysis is very well suited to meet this challenge, since it enables the extension of the basic set of the parameters describing segments. Therefore the segment parameters might be adapted to the function of the investigated nanostructures. The images presented in the paper were obtained by means of the TOPOGRAF software that is developed at the Division of Micro- and Nanostructures Metrology.

7

Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT

Sikora A., Gotszalk T., Szeloch R. F., Serafińczuk J., Jóźwiak G.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2008

|

Vol. 49, nr 11

220-222

PL

W pracy zaprezentowano wstępne wyniki prac związanych z wykorzystaniem mikroskopii Shear Force do diagnostyki powierzchni. W metodzie tej ostrze skanujące wprawiane jest w drgania równolegle do powierzchni w częstotliwością bliską rezonansu, a następnie mierzona jest amplituda tych oscylacji w celu określenia odległości ostrza od powierzchni. Należy podkreślić fakt, iż ostrze znajduje się w odległości kilku-kilkunastu nanometrów od powierzchni, przez co metodę tą można zakwalifikować jako bezkontaktową. Do wykonania badań wykorzystano stanowisko własnej konstrukcji. Dodatkowo, technika detekcji oddziaływań bliskiego pola Shear Force połączona została z funkcją pomiaru prądu emisji z powierzchni skanowanej, co umożliwiło tworzenie map właściwości elektrycznych próbki. Przeprowadzenie dwuwymiarowej transformaty FFT pozwoliło na zaprezentowanie nowego sposobu analizy wyników pomiarów.

EN

The Shear Force Microscopy (SHFM) and some preliminary results of the surface measurements are presented. In this technique the tip oscillates laterally to the surface near one of its resonant frequencies and the tip's oscillation amplitude is measured in order to estimate the tip-sample distance. It must be emphasized that the tip maintains the distance of several nanometers from the surface; thereby this method can be classified as non-contact. The home-made instrument was used to perform the experiments. Additionally, the Shear Force technique was combined with surface emission measurement feature, which allowed to create a "map" of electrical surface properties. By performing the FFT transforms of the results, new analysis approach was presented.

8

Distinguishing and identification of point and extended defects in DLTS measurements

Gelczuk Ł., Dąbrowska-Szata M., Jóźwiak G.

Materials Science Poland

|

2005

|

Vol. 23, No. 3

625--641

EN

The convenient and simple criteria which enable us to distinguish between deep level point and extended defects (e.g. dislocations) in DLTS measurements have been proposed. This approach is based on earlier reports of several authors and our own experiences in the field of DLTS measurement data analysis, for III-V semiconductors. It consists of standard DLTS measurements widened by line shape and line behaviour analysis as well as capture kinetics measurements. In the first part, the paper includes a survey of the literature on analysis of the DLTS-signal coming from dislocations. In the second part, selected experimental data on distinguishing and identification of deep point and extended defects, detected in GaAs/GaAs and InGaAs/GaAs heterostructures, have been presented.

9

Computer system of telemedical services for family doctor's practices

Kurzyński M., Jóźwiak G., Moi M.

Journal of Medical Informatics & Technologies

|

2002

|

Vol. 3

MI99--107

EN

This paper shows the current state of research and development over the telemedical services system for family doctor's practices. The introduction of this telemedical system should result in improvement in accessibility to medical services for the patient and to actual medical information, publications and up-to-date consultations for the physician, regardless of the distance from physician's clinic to the consultation center. This system should reduce the total costs of basic medical services. The system consists of two autonomous subsystems, that work in two arrangements: patient ↔ family doctor's practice and family doctor's practice ↔ information & consultation center. The remote medical care system provides vital signs monitoring through telephone line - physician can observe electrocardiogram and oxidation of blood, while the patient is many kilometres away. In case of unstable state of health, this system is able to alert the physician. The teleconsultation system provides a videoconference service with shared multimedia document (audio-video streams, graphic, text, etc.).

10

RPTLC and RPHPLC analysis of aliphatic alcohols as the DANS-Cl derivatives

Waksmundzka-Hajnos M., Jóźwiak G., Wawrzynowicz T.

Acta Chromatographica

|

2001

|

No. 11

51-61

EN

A homologous series of C4-C12 aliphatic alcohols has been deriva-tized with DANS-Cl, to introduce a fluorophoric group to the molecule, to enable TLC and/or HPLC analysis (with UV detection) of the compounds. The progress of the reaction under different sets of conditions was monitored by RPTLC. The chromatographic system was selected after analysis of the retention of the compounds obtained, in terms of the relationship between RM and the concentration, C (%), of organic modifier in the aqueous mobile phase. HPLC on C18 with isocratic elution was performed with 60% acetonitrile in water as mobile phase. The analysis time was approximately halved by use of gradient elution (linear gradient, 60-100% acetonitrile in water in 20 min).