PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Powierzchniowa redystrybucja sodu w szkłach tlenkowych wywołana wiązką jonów i plazmą
Tuleta M.
Materiały Ceramiczne
|
2014
|
T. 66, nr 4
421--423
PL
Powierzchnię złożonego szkła krzemianowego modyfikowano wiązką jonów tlenu, a powierzchnię szkła float niskotemperaturową plazmą argonową. Obserwowana powierzchniowa redystrybucja sodu w tych szkłach została wytłumaczona mechanicznym i polowym oddziaływaniem wiązki jonów oraz termicznym i polowym oddziaływaniem plazmy na jony sodu.
EN
The surface of compound silicate glass was modified by an oxygen ion beam, and the surface of float glass by low-temperature argon plasma. The sodium surface redistribution observed in these glasses was explained by the mechanical and field interactions of the ion beam and the thermal and field interactions of the plasma with sodium ions.
2
Content available remote Badanie powierzchni materiałów ceramicznych metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych
Tuleta M.
Materiały Ceramiczne
|
2014
|
T. 66, nr 2
126--128
PL
Profile głębokościowe przypowierzchniowego obszaru szkła sodowo glinokrzemianowego i warstwy diamentowej zostały otrzymane metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Profile pokazały zależność od wiązki jonów pierwotnych tlenu i cezu. Efekt ten jest wyjaśniany różnym mechanizmem modyfikacji powierzchni poddawanej działaniu jonów pierwotnych.
EN
Depth profiles of the near-surface region of sodium aluminosilicate glass and diamond film were obtained by the secondary ion mass spectrometry method. The profiles showed the dependence on oxygen and cesium ion beams. This effect is explained by various modification mechanisms of the surface treated with primary ions.
3
Content available remote Badanie powierzchni szkła wiązką jonów
Tuleta M.
Materiały Ceramiczne
|
2013
|
T. 65, nr 1
28--30
PL
Powierzchnia szkła sodowo glinokrzemianowego była analizowana za pomocą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Badano wpływ wiązki jonów tlenu i argonu na profile głębokościowe poszczególnych składników szkła. Otrzymane wyniki interpretowano w oparciu o mechaniczne i polowe oddziaływanie wiązki jonów z powierzchnią szkła.
EN
The surface of sodium aluminosilicate glass was analysed by means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). An influence of oxygen and argon ion beams on depth profiles of particular glass constituents was investigated. The results obtained were interpreted on the basis of the mechanical and field interactions of the ion beam with the glass surface.
4
Content available remote Modyfikacja powierzchni szkła float plazmą niskotemperaturową
Tuleta M.
Materiały Ceramiczne
|
2010
|
T. 62, nr 2
182-183
PL
Powierzchnia szkła float była poddawana działaniu niskotemperaturowej plazmy argonowej. Wpływ obróbki plazmowej na skład chemiczny powierzchni szkła był analizowany za pomocą techniki spektroskopii jonów rozproszonych (ISS). Obserwowane zmiany składu powierzchni wyjaśniono w oparciu o termiczne i elektryczne pole wytwarzane przez plazmę.
EN
The surface of flat glass was treated by a low-temperature plasma. An influence of plasma processing on the glass surface composition was analysed by means of ion scattering spectroscopy (ISS). The observed changes of the surface composition were explained basing on the thermal and electric fields created by the plasma.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.