Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Siarka w analizach polichlorowanych bifenyli (PCB)

Matacz Z.

Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Uczelniane Centrum Badawcze Energetyki i Ochrony Środowiska

1998

z. 2

37-42

Siarka elementarna występuje praktycznie we wszystkich próbkach, w których materiał organiczny poddany był działaniu mikroorganizmów. Sytuacja taka dotyczy gleby, osadów, różnorodnych odpadów przemysłowych i komunalnych. Ponieważ bardzo często należy ozna- czać zawartość różnorodnych zanieczyszczeń w takich próbkach, a podstawową techniką wstępnej separacji jest ekstrakcja szkodliwych związków rozpuszczalnikami organicznymi, siarka obecna w badanym materiale jest również ekstrahowana i przed analizą chromatografią gazową, szczególnie z wykorzystaniem detektora ECD, musi być ilościowo usunięta. Taki sposób detekcji jest standardowy w analizach polichlorowanych bifenyli, od dziesięcioleci stosowanych głównie jako materiał elektroizolacyjny w energetyce. Siarka obecna w próbce analitycznej maskuje znaczną część chromatogramu, uniemożliwiając prawidłową interpretację ilościową.

Elemental sulphur is practically present in all environmental samples. Most popular technics for quantitative analysis is gas chromatography with ECD as detector and this detector is very sensitive for sulphur. This compound must be removed using chemical agents, especially in analysis of PCB, fractional column chromatography is not effective in this case because of coelution sulphur in PCB fraction. Our new method of removing of sulfur employed sodium sulphite solution added to extracted sample.