Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Karbo

2 2000

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

EPR - owskie i dielektryczne badania C70

Kempiński W., Łoś S., Trybuła Z., Piekara-Sady L., Shames A. I., Shtutina S., Katz E.

Karbo

2000

Nr 4-5

141-143

Przedstawiono wyniki badań EPR dla polikrystaliczncj i cienkowarstwowych próbek C(70). Rejestrowane sygnały w trakcie wystawienia cienkowarstwowej próbki C(70) na działanie powietrza (tlenu) i światła zinterpretowano jako sygnały pochodzące od rodników C(70). Rezultaty niskotemperaturowych badań EPR przedyskutowano w oparciu o dobrze znane i opisane zachowanie się w podobnych warunkach eksperymentalnych fullerenu C(60). Dielektryczne badania, przeprowadzone dla pastylki sprasowanego fullerenu C(70), wskazały na możliwość zarejestrowania dwóch przemian fazowych w temperaturach ok.350K i ok.270K.

EPR investigations results for poly - crystalline and C(70) film samples have been presented. The signals recorded during exposure of thin layer C(70) sample to a operation (oxygen) and light were interpreted as signals coming from C(70) + radicals. Results of low temperature EPR investigations were discussed on the basis of well known and described behaviour of fullcrcn C(60) if similar experimental conditions. Dielectric investigations carried out for a pill of compressed fullcrcn C(70) indicated to the possibility of registration of two phase changes in temperatures of about 350 K and 270 K.

Dielektryczne badania cienkiej warstwy C60

Trybuła Z., Łoś S., Kempiński W., Trybuła M., Shtutina S., Shames A. I., Katz E. A.

Karbo

2000

Nr 4-5

139-140

Przedstawiono rezultaty badań dielektrycznych cienkiej warstwy fullcrcnu Cf)0 o grubości 149 nm ze srebrnymi elektrodami. Zaobserwowano przejście fazowe drugiego rodzaju z wysokotemperaturowej fazy /cc do niskotemperaturowej s c w Tc=240K, o 20K niższej niż dla monokryształu. Zmiana charakteru przejścia fazowego z pierwszego rodzaju dla monokryształów na drugiego rodzaju dla badanej próbki związana jest z defektami struktury i dyfuzją srebra do warstwy fullerenu.

The article presents the results of dielectric investigations of of C60 fullerene film of 149 nm thickness with silver electrodes. A phase transfer was observed of second type from high temperature fee phase to low temperature sc one at Tc = 240K., by 20K lower than for mono-crystal. The change in character of a phase transfer from the first type for mono-crystals into the second type for investigated sample is connected with faults of the structure and diffusion of silver into fulleren 's layer.