Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Rudy i Metale Nieżelazne

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Certyfikowane materiały odniesienia dla mosiądzów do przeróbki plastycznej.

Mueller E., Bolibrzuch B.

Rudy i Metale Nieżelazne

2000

R. 45, nr 1

34-41

Opisano sposób sprawdzania jakości, a także sposób wykorzystania w praktyce analitycznej certyfikowanych materiałów odniesienia przewidzianych dla mosiądzów do przeróbki plastycznej typu M68, M70 (seria MH) i M90, M95 (seria MI) poprzez opracowanie na nich spektralnych metod analitycznych z iskrą niskowoltową, z plazmą indukcyjnie sprzężoną oraz metod fluorescencji rentgenowskiej. Obie serie wytworzonych certyfikowanych materiałów odniesienia zawierają w swym składzie chemicznym następujące składniki stopowe i zanieczyszczenia: Cu (65,93+95,69 %), Zn (3,57+33,41 %), Fe (0,015+0,25 %), Pb (0,0060+0,33 %), Ni(0,0059+0,26 %), Mn (0,0017+0,085 %), Cd(0,0012+0,026 %), Sb (0,000044+0,024 %), Sn (0,0021+0,15 %), Ag (0,0029+0,026 %), As (0,0011+0,072 %), Bi (0,0006+0,0043 %), P (0,0011+0,028 %), S (0,0020+0,049 %), Al (0,0010+0,019 %), Te (0,0004+0,0047 %), Be (0,00004+0,0088 %), Si (0,0032+0,082 %). Wykazano uniwersalność certyfikowanych materiałów odniesienia opracowanych w IMN przystosowanych do wymagań nowoczesnej aparatury spektralnej.

The authors describe a way for quality checking of certified reference materials, produced by IMN Poland, for wrought brasses (cartridge brass MH series and gilding metal MI series) by a developed spectral analytical method, using low voltage argon spark, inductively coupled plasma and X-ray fluorescence methods. The investigated series of certified reference materials (MH and MI) contain the following main elements and impurities: Cu (65.93+95.69 %), Zn (3.57+33.41 %), Fe (0.015+0.25 %), Pb (0.0060+0.33 %), Ni (0.0059+026%),Mn (0.0017+0.085%), Cd (0.0012+0.026%),Sb (0.000044+0.024%), Sn (0.0021+0.15 %), Ag (0.0029+0.026 %), As (0.001 l+aO72%),Bi (O.0006+O.0O43 %) P(0.0011+0.028 %), S (O.002O+0.O49 %), A1 (0.0010+0.019 %), Te (0.0004+0.0047 %), Be (0.00004+0.0088 %), Si (0.0032+0.082 %). The certified reference materials, elaborated by IMN, are of high universality, adapted to the requirements of modern spectral analytical equipment.

Certyfikowane materiały odniesienia dla czystego srebra przystosowane do ICP.

Mueller E., Bolibrzuch B., Sadowski M.

Rudy i Metale Nieżelazne

1998

R. 43, nr 4

179-183

Opisano sposób wytwarzania i opracowania certyfikowanych materiałów odniesienia dla srebra wysokiej czystości, przystosowanych do metod optycznej spektrometrii emisyjnej z zastosowaniem plazmy indukcyjnie sprzężonej. Wytworzone certyfikowane materiały odniesienia (seria SG) posiadają w swym składzie chemicznym następujące zanieczyszczenia: Fe (2,7-22.6 ppm): Cu (15,0-326.0 ppm): Pb (2,0-59.7 ppm); Zn (2,7-70,8 ppm); Sb (0,8-57.5 ppm): Bi (1,4-46,3 ppm); Ni (1,6-47,6 ppm); Se (0,5-34,1 ppm); Te (0,7-36,9 ppm) oraz As (0.4-36,6 ppm). Jakość opracowanej serii sprawdzono poprzez opracowanie na niej spektralnej metody analitycznej ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej oraz przez porównanie z wcześniej wytworzoną w Instytucie Metali Nieżelaznych (Gliwice) serią SA.

There is described a method of production and development of certified reference materials for silver of high purity intended for optical emission methods with inductively coupled plasma. The manufactured certified reference materials (SG series) contain following impurities: Fe (2,7-22,6 ppm); Cu (15,0-326,0 ppm); Pb (2,0-59,7 ppm); Zn (2,7-70.8 ppm); Sb (0,8-57,5 ppm); Bi (1,4-46.3 ppm); Ni (1.6-47.6 ppm); Se (0,5-34,1 ppm); Te (0,7-36,9 ppm) and As (0,4-36,6 ppm). The quality of the series produced was checked by elaboration of a new optical emission method using mentioned reference materials and inductively coupled plasma as an excitation source and by comparison with another series SA developed earlier at the Institute of Non-Ferrous Metals (Gliwice).