PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools
Chobola Z., Růžička Z., Hasse L.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2002
|
Vol. 43, nr 6
32-33
EN
The paper presents the results of DLTS measurements for 1mm 2-sized specimens which have been cut from silicon solar cells showing considerable inhomogeneity as detected by means of the LBIV method. Transport and noise characteristics hace been also measured for these specimens.
PL
W artykule przedstawiono wyniki pomiarów niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów defektowych (Deep Level Transient Spectroscopy - DLTS) dla próbek w wymiarach 1 mm 2 uzyskanych z krzemowych ogniw słonecznych. Ogniwa wykazywały znaczną niejednorodność, co stwierdzono za pomocą metody polegającej na wytwarzaniu napięcia wzbudzonego wiązką światła (Light Beam Induced Voltage - LBIV). Dla próbek tych zmierzono również charakterystyki statyczne oraz szumowe.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.