A new approach accounting for secondary extinction (SE) is proposed for calculating the thickness of a foil mounted on textured substrate. To this end, the extinction-affected intensities of a strong substrate reflection are measured at different levels of interaction between X-radiation and crystal medium and, hence, these intensities suffer different extinction. Making use of such a series of measured intensities, the effect of extinction on the calculated foil thickness is eliminated by a proper definition of the zero-extinction condition. In this case, the definition is based on the incident-bean intensity independence of the empirical extinction coefficient k which is expressed by the measured intensities. The more precise interpretation of the experimental data leads to defining an extinction-free foil thickness, which results in improvement in the accuracy of the foil thickness determination.
PL
Zaproponowano nowe rozwiązanie dotyczące obliczeń grubości folii osadzonej na steksturyzowanym podłożu, uwzględniające ekstynkcję wtórną (SE). W tym celu, intensywność silnego odbicia dyfrakcyjnego od podłoża obarczone ekstynkcją, mierzone są przy różnych poziomach oddziaływania pomiędzy promieniami X i materiałem krystalicznym folii. Wpływ ekstynkcji na mierzoną grubość folii można wyeliminować poprzez właściwą definicję warunku zero-ekstynkcji, stosując serię zmierzonych intensywności. W takim przypadku, definicja oparta jest na niezależności intensywności wiązki pierwotnej od współczynnika doświadczalnej ekstynkcji k wyrażanego przez mierzoną intensywność. Interpretacja danych doświadczalnych prowadzi do dokładnego wyznaczenia grubości folii pozbawionej wpływu ekstynkcji.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.