Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W artykule przedstawiono opracowane przez Zespół Autorów wydajne elektroniczne systemy pomiarowe do diagnostyki gorącej plazmy tokamakowej bazujące na detektorach GEM. Na wstępie krótko omówiono realizowane eksperymenty fizyczne związane z gorącą plazmą oraz zasadę działania detektorów GEM, wykorzystywanych do rejestracji promieniowania miękkiego typu X emitowanego w tokamakach. Przedstawiono ogólną koncepcję budowy systemów elektronicznych do realizacji diagnostyki gorącej plazmy, działających z dużą ilość kanałów wejściowych oraz krótkim czasem przetwarzania danych. Omówiono dwa kluczowe systemy opracowywane przez Zespół: system sprzętowego histogramowania miękkiego promieniowania X oraz system szybkiej akwizycji potokowej miękkiego promieniowania X. Opisano budowę sprzętową systemów, opracowane koncepcje oraz implementacje oprogramowania (firmware oraz software) wraz z niezbędnymi algorytmami. Przedstawiono ponadto wyniki z działania systemów.
EN
This paper presents designed by the Research Team high performance electronic measurement system for hot tokamak plasma diagnostics, based on GEM detectors. The introduction is a brief description of the experiments related with hot plasma and the basics of the GEM detectors, used for tokamaks’ soft X-ray radiation registration. In the text is discussed the general design structure of electronic systems, working with high number of input channels and fast data processing. Two systems, designed by the Research Team, are also introduced: hardware soft X-ray histogramming system and fast serial soft X-ray data acquisition system. Description covers aspects of hardware construction, implemented firmware and software along with the necessary algorithms. The measurement result of the systems are also briefly discussed.
PL
W pracy przedstawiono projekt klastra procesorów DSP, zrealizowanego w postaci karty rozszerzeń do komputera PC. Scharakteryzowano właściwości procesorów DSP pod kątem ich zastosowań w klastrze. Omówiono schemat blokowy płyty, szczegóły realizacji sprzętowej karty. Opisano szczegóły zaprojektowanej wielowarstwowej płytki drukowanej.
EN
In this paper, a project of cluster of DSP is presented. This project is realized as a extended card for PC computers. A block diagram of a board was described. A DSP processor properties for cluster computation was described. A block diagram of the board was discussed. Next, a details of hardware realization of this card was described. The PCB project was discussed. A details of multilayers board was described.
PL
W pracy przedstawiono odporną regułę decyzyjną utworzoną na bazie modelowania regresyjnego, służącą do klasyfikacji znanych sygnałów w obecności zakłóceń impulsowych modelowanych rozkładami a-stabilnymi o ciężkich ogonach. Reguła ta prowadzi do zadawalających rezultatów klasyfikacji nawet dla szumów o dużej impulsowości i dla stosunkowo niewielkich stosunków sygnału do szumu, co potwierdziły badania symulacyjne. Ze względu na trudności numeryczne związane z modelowaniem regresyjnym ograniczeniem metody jest wymaganie liniowej niezależności klasyfikowanych sygnałów. Nie naruszając tego założenia, w pracy przedstawiono przykłady zastosowania metody dla sygnałów FSK.
EN
In this paper, a robust decision rule based on regression model and dedicated to classification of known signal in impulsive noise described by heavy-tailed a-stable distribution, is presented. The simulation results confirmed that this rule gives satisfactory results even for the large impulsiveness noise and/or relatively small signal to noise ratio. Due to the numerical burden associated with regression model the presented method is restricted to the set of linearly independent signals. With this restriction in mind we presented an example of the classification results for FSK signals.
PL
Omówiono właściwości współczesnych procesorów sygnałowych, różnice między nimi oraz innymi procesorami. Podano inne, alternatywne dla procesorów sygnałowych, sposoby przeprowadzania obliczeń DSP. Opisano serie procesorów produkowanych przez firmy Analog Devices, Texas Instruments i Freescale Semiconductors oraz środowiska do programowania procesorów DSP. Podano wyniki testów wydajności procesorów przeprowadzone przez firmę BDTI. Omówiono sposób testowania procesorów oraz problemy wyboru właściwego procesora do danego zastosowania.
EN
This article contains properties of Digital Signal Processors. The differences between DSP and other processor were described. Other method of Digital Signal Processing were described. Series of DSP processors produced by firms: Analog Devices, Texas Instruments and Freescale Semiconductors were discussed. This three firms has share significant part of a DSP market. The method of DSP testing by BDTI firm were described. The result of efficiency test of DSP processors were described. In the summary problem of choosing correct DSP processor to given application were discussed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.