PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 13

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Determination of the course change of the supercapacitor equivalent model basic parameters
Pilecki M., Błąd G., Potencki J., Tomaszewski G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2015
|
Vol. 56, nr 3
56-58
EN
The description of comparative study realization of commercially available supercapacitors, which belong to the same series, has been presented in this paper. The fundamental parameters of a simple equivalent model have been pointed out and the dispersion of all family parameters has been defined. The theoretical principles of used method, the construction of test bench and methodology of carrying out measurements have also been presented. The theoretical considerations have been illustrated by measurement and simulation results.
PL
W pracy zawarty został opis przebiegu realizacji badań porównawczych grupy 12 komercyjnie dostępnych superkondensatorów należących do tej samej serii. Wyznaczono podstawowe parametry prostego modelu zastępczego oraz określono ich rozrzut dla całej badanej grupy. W pracy przedstawiono podstawy teoretyczne zastosowanych metod, konstrukcję stanowiska pomiarowego oraz metodykę przeprowadzenia pomiarów. Rozważania teoretyczne zilustrowano wynikami badań eksperymentalnych oraz symulacyjnych.
2
Modeling of properties of multilayer inductances fabricated in different microelectronics technologies
Błąd G., Pilecki М., Potencki J., Tomaszewski G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2014
|
Vol. 55, nr 1
30-32
PL
W pracy przedstawiono analizę planarnych indukcyjności wielowarstwowych. Właściwości takich elementów, wykonanych w różnych technologiach mikroelektronicznych, zostały określone i zasymulowane przy użyciu oprogramowania Mentor Graphics – IE3D. Analizowano wpływ ilości warstw, właściwości podłoża, rozmiarów geometrycznych przewodnika, geometrię struktury oraz ich właściwości fizyczne. Zaprezentowany sposób modelowania może być użyty do optymalizacji geometrii, doboru materiału oraz jego parametrów dla projektowania procesu technologicznego indukcyjności planarnych.
EN
An analysis of planar spiral inductors design has been presented. The properties of such elements which can be made in different technologies have been determined and simulated using Mentor Graphics IE3D – high accuracy electromagnetic software. The effect of layer number, substrate, conductor dimensions, geometry of structure and physical properties of inductor parameters have been analyzed. This approach and elaborated procedures can be used to select optimal geometry, materials and parameters of technological processes for the planar inductor design.
3
Direct current method of supercapacitors parameters identification
Błąd G., Pilecki М., Potencki J., Tomaszewski G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2014
|
Vol. 55, nr 1
33-35
PL
W pracy zawarta została analiza możliwości wykorzystania stałoprądowej metody pomiarowej do określania parametrów modelu zastępczego superkondesatorów. Przedstawiono podstawy teoretyczne metody, konstrukcję specjalistycznego stanowiska pomiarowego oraz metodykę przeprowadzenia pomiarów. Rozważania teoretyczne zilustrowano wynikami badań eksperymentalnych wybranej grupy superkondesatorów.
EN
An analysis of DC measurement method utilization for determination of the supercapacitors equivalent model parameters has been presented. The used method theoretical principles and the construction of specialized test bench as well as methodology carrying out measurements have also been presented. The theoretical considerations have been illustrated by the measurement results of selected group of supercapacitors.
4
Content available Zastosowanie układów MEMS w pomiarach położenia oraz parametrów ruchu liniowego
Błąd G., Szlachta A.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2011
|
R. 57, nr 12
1558-1560
PL
W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru położenia oraz wyznaczenia parametrów ruchu liniowego poruszających się obiektów z wykorzystaniem czujnika MEMS. System w konfiguracji INS (ang. Inertial Navigation System), jest systemem nawigacji bezwładnościowej, wykorzystuje czujniki, takie jak akcelerometry, żyroskopy i inklinometry do obliczania prędkości, drogi i położenia poruszającego się obiektu. Układ składa się z części sprzętowej dotyczącej m.in. komunikacji mikrokontrolera z czujnikiem przyśpieszenia oraz komputerem, a także interfejsu użytkownika opracowanego w środowisku LabVIEW, który posłużył do prezentacji i obróbki wyników pomiarów.
EN
The elaborated system for measurement of position and linear motion parameters using MEMS sensor has been presented in this paper. The idea of measuring system has been described in chapter 2. Such system consists of hardware and calculation unit part. Data from sensor ADXL345 (Fig. 3) are transmitted to PC computer using Atmega32 microcontroller. The graphic user interface has been made in LabVIEW environment. It allows to present data and their handling. The practical application was presented in chapter 3 (Fig. 4). The example results of investigations have been shown and discussed in another part of work (Fig. 5). The designed and practically made measuring system has possibility of expanding with another sensors up to full INS system (Inertial Navigation System). It only requires software modification (without hardware inter-ference).
5
Wpływ otoczenia na pomiary emisyjności układów mikroelektronicznych
Błąd G., Wałach T.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 8
100-105
PL
Termowizyjne badania układów mikroelektronicznych odbywają się zwykle przy niewielkiej odległości kamery termowizyjnej od układu, dla której kamera staje się bardzo ważnym elementem jego otoczenia, szczególnie kiedy w kamerze zastosowano chłodzony detektor. Detektor taki silnie różnicuje opromieniowanie układu. Wskutek czego ta jego część, która po odbiciu od jego powierzchni dociera do kamery, również może być silnie zróżnicowana. Zróżnicowanie to może być źródłem dużych błędów pomiarów emisyjności i temperatury okładów, przeprowadzonych przy założeniu, że temperatura i promieniowanie otoczenia są jednorodne i to nawet wtedy, gdy emisyjność jest dość wysoka. W pracy przedstawiono i omówiono główne czynniki warunkujące wpływ otoczenia na pomiary emisyjności w układach mikroelektronicznych, a także rożne metody stosowane do kompensacji tego wpływu.
EN
Investigations of microelectronics circuits by using infrared cameras most often are carried out for short measurement distances. For such distances the IR camera becomes a very important element of the surroundings of the investigated circuit, particularly when a cooled detector (single or matrix) was mounted in the camera. The cooled detector diversifies strongly the circuit irradiation, which can cause the radiation reflected from the circuit and reaching the camera to be also diversified. The diversification can lead to large errors in emissivity and temperature measurements of the circuits accomplished assuming that the surroundings is uniform and its temperature is equal to the ambient one, even if the emissivity is high In the paper the main factors determining the influence of the surroundings on emissivity measurements of microelectronic circuits were presented and discussed. Different methods used to compensate for this influence were also briefly described.
6
Symulacja pola temperatury w grubowarstwowych strukturach czujników gazu
Błąd G., Kalita W., Klepacki D., Różak F., Węglarski M.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 8
105-111
PL
Współczesne systemy czujnikowe wymagają często podwyższonej temperatury pracy. Bardzo dobrym przykładem takich struktur są czujniki gazu, w których wymaga się temperatury pracy nawet do 900°C. Zastosowanie technologii grubowarstwowej pozwala uzyskiwać systemy grzejne o wyjątkowo wysokich parametrach eksploatacyjnych. W pracy zaprezentowano wyniki symulacji rozkładu pola temperatury zarówno standardowych grzejników, jak i konstrukcji opracowanych pod kątem równomiernego rozkładu temperatury na powierzchni czynnej czujnika.
EN
The modern sensor systems require a high temperature value very often. The very good example of such structures are gas sensors where required temperature can be equal even 900°C. The application of thick-film technology allows to obtain the heating systems with very good exploitation parameters. The results of simulations of temperature field distribution have been presented for the standard heaters as well as specially elaborated heater systems for obtaining flat temperature distribution on the active sensor surface.
7
Kształtowanie pola temperatury o zróżnicowanych poziomach w strukturach grubowarstwowych
Kalita W., Klepacki D., Błąd G., Różak F., Węglarski M.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 8
111-115
PL
Poprawne ukształtowanie założonego rozkładu temperatury w mikroukładzie hybrydowym jest uwarunkowane bardzo wieloma czynnikami, związanymi zarówno z procesami wymiany ciepła jak i zmiennością parametrów zastosowanych materiałów oraz przyjętą, strukturą geometryczną. Uzyskanie pola temperatury o zróżnicowanych poziomach oraz zapewnienie jego niezmienności w rożnych warunkach pracy, jest możliwe jedynie przy zastosowaniu systemu wielu elementów grzejnych. Głównym celem prezentowanych prac badawczych jest analiza funkcjonalna systemów grzejnych, realizowanych w technologii grubowarstwowej oraz opracowanie algorytmu projektowania grzejników wieloelementowych (np. o strukturze matrycowej).
EN
The correct designing of assumed temperature distribution in hybrid microcircuits is contingent upon a number of factors connected with both processes of heat exchange and parameters variability of materials and also geometric pattern of structure. The temperature field with different levels can be only obtained by using the heater system with multiple elements. Only in such system is also possible to set up the field which is insensitive to different work conditions. The main objective of the presented research is to functional analyze of heating systems implemented in thick-film technology and to develop design algorithm of multiple heaters (e.g. arranged in matrix structure).
8
Dyskretny model RC wymiany ciepła w wielowarstwowych mikroelektronicznych strukturach hybrydowych
Błąd G., Klepacki D., Potencki J., Wałach T.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 8
115-120
PL
Mechanizmy wymiany ciepła w strukturach mikroelektronicznych i ich analiza stanowią skomplikowany problem. Praktycznie, tylko obliczenia numeryczne i specjalizowane programy symulacyjne mogą rozwiązać układ równań różnicowych z bardzo skomplikowanymi warunkami początkowymi i granicznymi. W artykule zaprezentowano opis termicznego modelu 3D wielowarstwowej struktury hybrydowej jako elektrycznego modelu zastępczego z elementami RC, który został użyty w obliczeniach symulacyjnych z wykorzystaniem programu PSpice.
EN
The complexity of heat exchange mechanisms in electronic circuits make tine thermal analysis a complicated problem in relation to their proper operation. In reality, only numerical calculations and specialized simulation programs can solve the systems of differential equations with very complicated boundary and initial conditions. The paper presents some aspects of describing of 3D thermal model of the hybrid multilayer structure with equivalent models (based on RC elements) which are used in temperature field simulation using PSpice program.
9
Application possibilities of nanoparticles for modification of parameters of liquid crystal materials
Hotra Z., Mykytyuk Z., Fechan A., Sushynskyy O., Yasynovska O., Kotsun V., Levenets V., Kalita W., Błąd G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 8
125-128
EN
The influence of different kinds of nanoparticles on the electrical characteristics of induced cholesterics based on 5CB and 1289 nernatic matrix with the addition of chiral dopant has been experimentally investigated. The effects of nanoparticles on the dielectric properties of liquid crystal materials were detected and analyzed.
PL
W pracy zaprezentowano wyniki badań nad wpływem domieszkowania różnego typu nanoczasteczek na charakterystyki cholesteryków na bazie materiałów nematycznych. Przeanalizowano również właściwości dielektryczne materiałów ciekłokrystalicznych po domieszkowaniu.
10
Content available Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Błąd G., Wałach T.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2009
|
R. 55, nr 11
878-881
PL
Omówiono główne czynniki wpływające na wybór zakresu spektralnego kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice: parametry katalogowe kamer, przebiegi krzywych kalibracyjnych oraz własności promienne mikroukładów. Dla oceny kamer opracowano procedurę i obliczono niepewność standardową pomiaru emisyjności i temperatury. Zwykle mniejszą niepewność oferują kamery średniofalowe, lecz inne czynniki mogą zdecydować o wyborze kamery długofalowej.
EN
In microelectronics the accuracy of infrared thermography very often depends strongly on the IR camera spectral range. Cameras with different spectral ranges are usually compared using the uncertainty of temperature measurements. There are several works devoted to calculating this uncertainty. Unfortunately, in these works the uncertainty of emissivity measurements is arbitrarily determined, which makes it difficult to evaluate generally the accuracy of cameras. In the paper procedures for calculation of the relative combined standard uncertainties of emissivity and temperature measurements are proposed. Thanks to knowledge of the definition of some camera parameters it was possible to estimate well the uncertainty components coming from the camera by using statistical relationships and to achieve a high reliability of calculations. The calculation results allow one both to evaluate generally the uncertainties for IR cameras with various spectral ranges and to determine the conditions of obtaining low values of these uncertainties. The camera calibration curve shape influences not only the uncertainty but also the result of averaging temperatures in the camera ground instantaneous field-of-view. The dependence of this result on the spectral range is analysed in the work. In microelectronics the radiative properties of the components may often have the main influence on the choice of camera. Some of these properties and their impact on measurements are also discussed.
11
Content available System do wyznaczania charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych
Błąd G., Szlachta A.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2008
|
R. 54, nr 12
874-876
PL
W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych z wykorzystaniem nowoczesnych metod - mikrokontrolera, oprogramowania, wysokiej klasy urządzeń przetwarzania sygnałów akustycznych. Część praktyczną stanowią: koncepcja oraz realizacja praktyczna stanowiska do pomiaru charakterystyki kierunkowości głośników i mikrofonów. Stanowisko to stanowi system elektroniczny wraz z oprogramowaniem sterującym (środowisko LabView) stolikiem obrotowym oraz całym procesem pomiarowym wraz z wizualizacją wyników.
EN
The idea and practical realisation of a measuring system for directional response pattern determination of electro-acoustic converters are presented in this paper. Such a laboratory stand was realised using the modern methods, that is a microcontroller, software as well as signal converters of high class. It consists of a specially elaborated electronic system with software (made in LabView environment) that controls a rotary table and the whole measuring process (including data visualisation).
12
Complex simulation of thick-film microcircuits using electro-thermal analogy
Błąd G., Kalita W., Klepacki D., Potencki J.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2006
|
Vol. 47, nr 12
27-29
EN
The paper presents some aspects of describing of thermal model of the thick-film microcircuits with equivalent models (based on RC elements) as well as example of the complex analysis of hybrid power controller of household equipment in PSPICE program.
PL
Zaprezentowano wybrane aspekty formalnego opisu modelu termicznego mikroukładu grubowarstwowego, wykorzystującego zastępczy układ oparty na elementach RC. Jako przykład przeanalizowano hybrydowy regulator mocy silnika stosowany w sprzęcie AGD. Symulacje przeprowadzono w programie PSPICE.
13
Modelowanie pól temperatury w grubowarstwowych strukturach sensorowych
Błąd G., Klepacki D.
Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
|
2002
|
nr 7-8
39-42
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.