Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Interaction between matrix crack and elliptic inclusion under dynamic loadings

Li Y, Ou Z., Duan Z., Huang F.

Journal of Theoretical and Applied Mechanics

2013

Vol. 51 nr 2

327--337

The strain-rate effects on the interaction between a matrix crack and an elliptic inclusion in granule composites under dynamic tensile loadings are investigated numerically. It is found that the crack deflection/penetration behavior depends on the relative strength and local curvature of the interface as well as the loading-rate (or strain-rate). For a certain interfacial strength, there exists a critical strain-rate above which the crack can penetrate across the interface; otherwise, the crack deflection occurs. Moreover, the critical strain-rate is found to be dependent only on the local curvature of the interface near the crack tip regardless of the size and shape of the elliptic inclusions.

W pracy przedstawiono rezultaty symulacji numerycznych wpływu szybkości zmian stanu naprężenia na interakcje pomiędzy szczeliną w osnowie i eliptycznym wtrąceniu w kompozycie granulkowym poddanym dynamicznemu obciążeniu rozciągającemu. Stwierdzono, że odkształcenie i (lub) penetracja szczeliny zależy od względnej wytrzymałości oraz lokalnej krzywizny powierzchni kontaktu pomiędzy wtrąceniem a osnową. Wykazano także ich zależność od tempa zmian obciążenia (lub odkształcenia). Zauważono, że przy pewnym poziomie wytrzymałości powierzchni kontaktu pojawia się krytyczna wartość tempa zmian odkształcenia, powyżej której szczelina propaguje w poprzek powierzchni kontaktu, w przeciwnym razie ugina się. Zgodnie z wynikami badań, krytyczna wartość szybkości zmian odkształcenia okazała się zależna wyłącznie od miejscowej krzywizny powierzchni kontaktu przy wierzchołku szczeliny, bez względu na rozmiar i kształt eliptycznego wtrącenia.

Surface Effect on the Buckling of a Stretchable Electronic Structure

Zhang X., Ou Z., Yao X.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 9b

137-140

The structure of a stiff thin film on a compliant substrate has important applications in stretchable electronics. However, such structures are micro-nano-order of magnitude, where surface effects cannot be ignored. Gurtin-Murdoch theory is applied to model the thin film including surface effects. Through energy method, the size-dependent relations between the buckling features, material properties and geometric parameters are deduced. At last the influence of surface effects is illustrated by the case of silicon film and PDMS substrate.

Badano strukturę cienkiej warstwy nałożonej na podłoże. Taka struktura może mieć rząd nanometrów kiedy efekt podłoża nie może być ignorowany. Zaproponowano model matematyczny struktury bazując na teorii Gurtin-Murdoch.