Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Karbo

1 2000

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Dielektryczne badania cienkiej warstwy C60

Trybuła Z., Łoś S., Kempiński W., Trybuła M., Shtutina S., Shames A. I., Katz E. A.

Karbo

2000

Nr 4-5

139-140

Przedstawiono rezultaty badań dielektrycznych cienkiej warstwy fullcrcnu Cf)0 o grubości 149 nm ze srebrnymi elektrodami. Zaobserwowano przejście fazowe drugiego rodzaju z wysokotemperaturowej fazy /cc do niskotemperaturowej s c w Tc=240K, o 20K niższej niż dla monokryształu. Zmiana charakteru przejścia fazowego z pierwszego rodzaju dla monokryształów na drugiego rodzaju dla badanej próbki związana jest z defektami struktury i dyfuzją srebra do warstwy fullerenu.

The article presents the results of dielectric investigations of of C60 fullerene film of 149 nm thickness with silver electrodes. A phase transfer was observed of second type from high temperature fee phase to low temperature sc one at Tc = 240K., by 20K lower than for mono-crystal. The change in character of a phase transfer from the first type for mono-crystals into the second type for investigated sample is connected with faults of the structure and diffusion of silver into fulleren 's layer.