PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 21

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
1
Content available A random signal generation method for microcontrollers with DACs
Czaja Z., Kowalewski M.
Metrology and Measurement Systems
|
2018
|
Vol. 25, nr 4
675--687
EN
A new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are used to reseed the LFSR after its each full work cycle, what improves randomness of generated data, which results in a greater similarity of the generated random signal to white noise, what was confirmed by the results of experimental research. The noise generator uses only the internal devices of the microcontroller, hence the proposed solution does not introduce hardware redundancy to the system.
2
Content available remote A method of measuring RLC components for microcontroller systems
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2017
|
R. 93, nr 10
37--40
EN
A new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the microcontroller. The obtained set of voltage samples is used to determine values of the sensor model impedance components.
PL
Przedstawiono nową metodę pomiaru elementów RLC dla systemów sterowanych mikrokontrolerami dedykowaną dla inteligentnych czujników impedancji opartych na bezpośrednim interfejsie czujnik-mikrokontroler. W metodzie interfejs ten złożony z rezystora referencyjnego połączonego szeregowo z badanym czujnikiem impedancji pobudzany jest przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź napięciowa próbkowana jest przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Zbiór próbek napięcia jest używany do wyznaczenia wartości elementów modelu impedancji czujnika.
3
Content available remote A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model
Czaja Z., Kowalewski M.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2017
|
R. 93, nr 10
60--63
EN
A new solution of a smart microcontroller sensor based on a simple direct sensor-microcontroller interface for technical objects modeled by two-terminal networks and by the Beaunier’s model of anticorrosion coating is proposed. The tested object is stimulated by a square pulse and its time voltage response is sampled four times by the internal ADC of microcontroller. A neural classifier based on measurement data classifies the tested object to a given degradation stage.
PL
Przedstawiono nowe rozwiązanie inteligentnego czujnika opartego na bezpośrednim interfejsie mikrokontroler-czujnik dla obiektów technicznych modelowanych dwójnikami i modelem Beauniera dla powłok antykorozyjnych. Testowany obiekt jest pobudzany impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź próbkowana cztery razy przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Klasyfikator neuronowy bazując na wynikach pomiarowych dokonuje klasyfikacji testowanego obiektu do danego etapu degradacji.
4
Content available remote A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
Czaja Z., Bartosiński B.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 11
23--26
EN
A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus).
PL
Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym.
5
Content available remote A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 11
19--22
EN
A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.
PL
Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
6
Content available An Implementation of a Compact Smart Resistive Sensor Based on a Microcontroller with an Internal ADC
Czaja Z.
Metrology and Measurement Systems
|
2016
|
Vol. 23, nr 2
225--238
EN
In the paper a new implementation of a compact smart resistive sensor based on a microcontroller with internal ADCs is proposed and analysed. The solution is based only on a (already existing in the system) microcontroller and a simple sensor interface circuit working as a voltage divider consisting of a reference resistor and a resistive sensor connected in parallel with an interference suppression capacitor. The measurement method is based on stimulation of the sensor interface circuit by a single square voltage pulse and on sampling the resulting voltage on the resistive sensor. The proposed solution is illustrated by a complete application of the compact smart resistive sensor used for temperature measurements, based on an 8-bit ATxmega32A4 microcontroller with a 12-bit ADC and a Pt100 resistive sensor. The results of experimental research confirm that the compact smart resistive sensor has 1°C resolution of temperature measurement for the whole range of changes of measured temperatures.
7
Content available Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2014
|
R. 60, nr 9
737--740
PL
Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
EN
A new self-testing method of analog parts based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a "negative" square pulse at the Vocm input into localization curves placed in the measurement space. The stimulation pulse is generated by the short circuit of the signal at the Vocm input to the ground. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. For the method there were developed: the measurement procedure whose algorithm is partly implemented in the program code of the microcontroller and partly included in the configuration of its peripheral devices, the ways of selection of diagnosis method parameters such as: the duration time T of the stimulation, that is short circuit of the signal Vocm to the ground signal, the size K of the measurement space and voltage sample moments, and also the fault dictionary determined experimentally. The approach is illustrated on the microsystem controlled by the ATXmega32A4 microcontroller. A low-pass 2nd order filter in the MFB topologies was selected as the tested analog part.
8
Content available Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
Czaja Z., Bartosiński B.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2014
|
R. 60, nr 9
745--748
PL
Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
EN
A new solution of the JTAG BIST for self-testing of analog parts based on multi-section higher-order filters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time responses of the next section of the filter on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization of the first faulty section of the filter. Thanks to use of the proposed fault diagnosis method, there is no need for expanding the JTAG BIST by any additional components. It follows from the fact that the square pulse stimulating the tested circuit is set only at the input of the first section of the filter. The ADC SCANSTA476 samples two times the time responses at outputs of all sections. Thanks to this, the JTAG BIST needs only one pin of the BCT8244A, and up to 8 inputs pins connected to the analog multiplexer of the ADC of the SCANSTA476.
9
Content available Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
Kowalewski M., Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2014
|
R. 60, nr 9
733--736
PL
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie wielosekcyjnego toru analogowego złożonego z trzech filtrów dolnoprzepustowych 2-go rzędu o strukturze Sallena-Keya.
EN
The aim of the paper is usage of a classifier with Two-Center Basis Functions for localization of faults in multi-stage filters implemented in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. The main idea of self-testing approach is development of a BIST with a set of analog switches located between individual stages of a tested filter. Thanks to multiplexers used in general purpose input/output lines in microcontrollers, a single line can be the output of an excitation signal (eg. a square impulse) or the input of a measured signal applied to an analog-to-digital converter through the analog multiplexer. Details of the measurement procedure as well methods of detection and localization of faults in analog circuits with use of the TCBF classifier implemented in the microcontroller program code are discussed. The construction and a method of obtaining parameters of the TCBF classifier on an exemplary filter consisting of three 2nd order low-pass filters based on the Sallen-Key topology are presented.
10
Content available Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2013
|
R. 59, nr 4
368--371
PL
Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
EN
A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
11
Content available remote Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
Czaja Z., Kowalewski M., Zielonko R.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2011
|
R. 87, nr 10
184-187
PL
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.
EN
The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented.
12
Content available remote Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2011
|
R. 87, nr 9a
33-36
PL
Przedstawiono nową metodę samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
EN
A new self-testing method of analog parts terminated by ADCs in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method basing on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.
13
Content available remote Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Czaja Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 9
5-8
PL
W artykule przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.
EN
A new method of sinusoidal signal parameter measurements (the period, the amplitude and the offset voltage) elaborated for electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented in the paper. The idea of the method bases on using internal measurement peripheral devices of microcontrollers (timers/counters, analog to digital converters (ADCs) and analog comparators) to create reconfigurable measurement microsystems. A 16-bit timer controlled by an analog comparator is used to determine the signal period, and a 10-bit ADC triggered by the 16-bit timer measures three voltage samples which are used to calculations of the signal amplitude and the offset voltage. These microsystems are configuration-flexible and projected for low-cost applications. An estimation of the voltage measurement uncertainty for the method was made. The results describes the resolution and the uncertainty of voltage measurements and also the permissible range of frequencies of measured signals. Thanks to these results, it is possible to estimate the usefulness of the method for a given application.
14
Content available Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Czaja Z., Załęski D.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
R. 53, nr 9 bis
735--738
PL
W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
EN
This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.
15
Content available Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Czaja Z.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
R. 53, nr 9 bis
731--734
PL
W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
EN
In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
16
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Czaja Z., Załęski D.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2007
|
Vol. 48, nr 9
17-22
PL
Przedstawiono nowe podejście do samotestowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem z wykorzystaniem metody detekcji i okalizacji pojedyńczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, ajego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera w momentach ściśle określonych przez jego wewnętrzny licznik. Następnie mikrokontroler bazując na zestawie funkcji realizujących operacje na zbiorach rozmytych zwanych "interpreterem logiki rozmytej (ILR)", wyniku pomiarowym i słowniku uszkodzeń składającym się ze zbiorów reguł i funkcji przynależności dokonuje detekcji i w przypadku wykrycia uszkodzenia jego lokalizacji. Słownik uszkodzeń jest tworzony w etapie przedtestowym z rodziny pasów lokalizacyjnych, które z kolei powstają przez rozmycie krzywych identyfikacyjnych w wyniku uwzględnienia tolerancji elementów nieuszkodzonych.
EN
A new approach of self-testing of an analog part in mixed-signal embedded system controlled by a microcontroller is presented. It bases on a method of detection and localisation of single hard and soft faults of passive elements in analog circuits. At a measurement stage the tested analog part is stimulated by a periodical square-wave signal generated by the microcontroller, and its response is sampled by an internal ADC of the microcontroller in moments exactly established by an internal timer of the microcontroller. Next, the microcontroller makes fault detection and fault localisation based on a set of function realizing operations on fuzzy sets named "an interpreter of a fuzzy logic (IFL)", a measurement result and a fault dictionary consisted of rule sets and membership functions. The fault dictionary is created in pretesting stage from a family of localisation belts, which are created by fuzziness of identification curves in result of taking into account tolerances of no-faulty elements. Identification curves placed in a measurement result plane illustrate behavior of tested circuit incoming from failures of elements (hard faults) and changes of values of elements (soft faults).
17
Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego
Czaja Z., Załęski D.
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
|
2006
|
T. 9
23-30
PL
W artykule przedstawiono nową metodę diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami wyposażonymi w procesor decyzyjny bazujący na logice rozmytej. Metoda składa się z części przed-testowej tworzenia słownika uszkodzeń zawierającego zbiory rozmyte i reguły, części pomiarowej, w której dokonuje się pomiaru modułu i fazy funkcji układowej części analogowej mikrosystemu, oraz z procedury detekcji i lokalizacji uszkodzeń wykonywanej przez procesor decyzyjny. Pomiar i procedura diagnostyczna są realizowane wyłącznie przez mikrokontroler zamontowany w systemie, z wykorzystaniem jego zasobów sprzętowych i mocy obliczeniowej. Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.
EN
The paper presents the new diagnostic method of analog parts in mixed-signal embedded microsystems controlled by microcontroller with biult-in hardware fuzzy logic decision proccesor. The method consists of three stages. In the first pre-test stage the fault dictionary that includes a group of membership functions and rules of fuzzy faults models is created. In the second stage the measurement of modulus and phase of tested circuit transfer function is done. In the last stage the procedure of fault delection and localisation is executed. The diagnostic method is additionally implemented in microcontroller that is already mounted and controls an embedded system. The method has two main advantages. Firstly, it enables detection of parametric faults of analog parts and also localisation of single parametric faults with tolerance of non-faulty elements taken into account.
18
Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym
Czaja Z.
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
|
2005
|
T. 8
693-700
PL
W artykule przedstawiono implementację zmodyfikowanej metody biliniowej 2D diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda cechuje się prostym algorytmem diagnostycznym, który z powodzeniem można zaimplementować w 8-bitowych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI, oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.
EN
In the paper the implementation of the modified bilinear 2D fault diagnosis method of analog parts of mixed signal microsystems controlled by microcontrollers is presented. The method has a simple diagnosis algorithm, which can be implemented in 8-bits popular microcontrollers with the SPI interface, and it does not require excessive extension of the BIST of the microsystem. The advantage of the method is possibility not only a fault detection, but also localisation of a single soft faults in the analog circuits with tolerances of no-fault elements.
19
Content available Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
Czaja Z.
Diagnostyka
|
2004
|
Vol. 30, T. 1
119--122
PL
W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.
EN
In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.
20
Content available remote New methods of fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in multidimensional spaces
Czaja Z., Zielonko R.
Metrology and Measurement Systems
|
2001
|
Vol. 8, nr 3
251-262
EN
New methods of localisation and identification of faulty components in linear electronic circuits based on bilinear transformation in multidimensional spaces are presented. The methods, named 3D, 4D, 6D, can be applied in a diagnosis of electronic circuits with the aid of different technologies: conventional measurement systems, testing buses and neural networks. They are also useful for parameter identification of ther objects modelled by electrical circuits (electrochemical, biomedical, and electromechanical objects). The methods can be utilised in practice for localisation and identification of single, double and triple faults. Examples illustrating the methods and their neural network application are included.
PL
W pracy przedstawiono klasę nowych metod lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych bazujących na przekształceniu biliniowym w trój (3D), cztero (4D) i sześciowymiarowych (6D) przestrzeniach funkcji układowych. Jak wiadomo funkcja układowa Fi(.) liniowego układu elektronicznego może byc przedstawiona w formie biliniowej funkcji (1) parametru pi każdego elementu układu. Funkcja ta jest transformacją, która odwzorowuje zmiany parametrów pi, i = 1, 2,..., N, w rodzinę krzywych (nazywanych identyfikacyjnymi) na płaszczyźnie zespolonej Re(Fi), przecinających się w punkcie nominalnym (rys. 1a, b). Moga one być wyskalowane w wartościach pi i wykorzystane do lokalizacji oraz identyfikacji pojedynczych uszkodzeń układów elektronicznych. Wadą konwencjonalnej metody biliniowej 2D zaproponowanej przez Martensa i Dycka [1], wynikającą z bliskości wobec siebie krzywych identyfikacyjnych lub wręcz ich nakładania się, jest duże prawdopodobieństwo niejednoznaczności lokalizacyjnej oraz brak możliwości diagnostyki uszkodzeń wielokrotnych. Istotą nowych metod, wykorzystujących pomiary 2 lub 3 funkcji układowych, nazywanych odpowiednio metodami 3D, 4D i 6D, jest przeniesienie krzywych identyfikacyjnych w przestrzenie 3, 4 lub 6 wymiarowe, co powoduje radykalne zwiększenie się odległości między krzywymi (rys. 3 i 4) i w konsekwencji zwiększenie rozdzielczości lokalizacyjnej w stopniu umożliwiającym implementacje tych metod w praktyce. Umożliwiają one także generację powierzchni identyfikacyjnych uszkodzeń podwójnych (rys. 6) oraz brył identyfikacyjnych uszkodzeń potrójnych, a w konsekwencji diagnostykę uszkodzeń wielokrotnych. Mogą być wykorzystywane również do pomiarów identyfikacyjnych innych obiektów technicznych modelowanych układami elektronicznymi. W pracy przedstawiono podstawy teoretyczne nowych metod, algorytmy lokalizacji uszkodzeń pojedynczych, podwójnych i potrójnych oraz przykłady ilustrujące. Zamieszczono także przykład implementacji metody 4D w sieci neuronowej.
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.