Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Przedstawiono podstawy fizyczne metody interferometrii siatkowej oraz jej zalety i ograniczenia. Zaprezentowano koncepcję falowodowego mikrointerferometru siatkowego przeznaczonego do analizy rozkładów przemieszczeń w płaszczyźnie mikroelementów lub w niewielkich obszarach pomiarowych, np. wokół złączy lub pęknięć. Omówiono budowę falowodowej głowicy mikrointerferometru siatkowego wraz z analizą wybranych parametrów konstrukcyjnych, optycznych i metrologicznych. Na zakończenie przedstawiono przykładowe zastosowania mikrointerferometru w badaniach mikroelementów MEMS/MOEMS oraz propagacji pęknięć w węglikach spiekanych i stopach aluminium.
EN
The phys. basis of the grating (moiré) interferometry method and its advantages and limitations were presented. The concept of a waveguide grating microinterferometer designed for the anal. of displacement distributions in the plane of microelements or in small measurement areas, such a around joints or cracks, was presented. The construction of the waveguide grating microinterferometer head was described, together with the anal. of basic design, optical and metrological parameters. Examples of the microinterferometer’s use in mech. tests of MEMS/MOEMS microelements and in studies of crack propagation in various materials were presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.