Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2016

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Efficiency of chemometric methodology for characterization of In/CuPc films on HOPG and InSb based on ultraviolet photoelectron spectra

Balcerowska-Czerniak G., Dittmar-Wituski A., Hiller T., Bukaluk A.

Inżynieria Materiałowa

2016

Vol. 37, nr 5

233--239

Photoemission spectroscopy offers the possibility to study on the interface formation of copper phthalocyanine exposed to indium. In this paper, we demonstrate the potential of using chemometric treatment in the characterization of In/CuPc films on HOPG and InSb substrates based on ultraviolet photoelectron spectra (UPS). The main advantage of using chemometric methods is that there is no need to construct of line intensities models to gain valuable information. The experimental data sets have a bilinear mathematical structure and, therefore, they can be subjected to principal component analysis (PCA). The results of PCA showed that the principal component loadings provide useful information about the changes in the line intensities and the peak positions. The obtained graphical models of data, in a simple way, enabled the determination of new supplementary information concerning the role of the individual chemical compounds in terms of In/CuPc interface formation. Moreover, chemometric classification method such as cluster analysis (CA) allowed identifying the subgroups of samples according to a specific property of formed components.

W układach z metalami ftalocyjanina miedzi (CuPc) stanowi ciekawy materiał organiczny wykazujący właściwości półprzewodnikowe, dzięki czemu stała się materiałem szeroko wykorzystywanym w technologii przyrządów elektronicznych oraz optoelektronicznych. Układy typu metal/CuPc na różnych podłożach są opisywane w literaturze, ale jak się okazuje wyniki nie są spójne i jednoznaczne. Celem pracy jest wykazanie przydatności metod chemometrycznych w analizie dwóch układów: In/CuPc/InSb oraz In/CuPc/grafit na podstawie widm otrzymanych metodą spektroskopii fotoelektronów wzbudzanych promieniowaniem nadfioletowym (UPS).