Noise signal analyzer for multi-terminal devices

• Autorzy: Stadler A. W.

Warianty tytułu

PL

Analizator szumu w elementach wielokońcówkowych

• Konferencja: 31 International Conference and Exhibition IMAPS Poland 2007 ; 23-26.09.2007 ; Rzeszów - Krasiczyn, Poland
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A construction of Noise Signal Analyzer dedicated for low-frequency noise parametrization of multi-terminal electronics devices and elements has been described. Virtual instrument concept and FFT-based architecture have been used to develop the instrument. An experiment on noise in RuO2-glass multi-terminal resistors has been performed in room-temperature to test usefulness of the Analyzer. It has been confirmed that the measured noise is of 1/f shape. It has been revealed in further analysis of measurements by the use of second spectra approach that in higher octaves non-Gaussian component appears. The experiment proves that Analyzer significantly extends the range of possible noise analysis of the system in question.

PL

Opisano konstrukcję analizatora szumu niskoczęstotliwościowego w elementach i przyrządach wielokońcówkowych. Wykorzystano architekturę FFT i koncepcję przyrządu wirtualnego. Przeprowadzono eksperyment w temperaturze pokojowej dotyczący pomiaru szumu w wielokońcówkowym rezystorze RuO2+szkło, pokazując przydatność opracowanego analizatora. Potwierdzono, że zaobserwowany szum jest typu 1/f. W widmach drugiego rzędu wykryto składnik niestacjonarny. Eksperyment pokazał, że opracowany analizator znacznie rozszerza zakres możliwej do przeprowadzenia analizy szumu w badanych elementach.

Słowa kluczowe

EN

low-frequency noise measurements; RuO2-glass thick film resistors; virtual instrument

PL

szum niskoczęstotliwościowy; rezystory RuO +szkło; przyrząd wirtualny

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 12
• Strony: 54--56
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wykr.

Twórcy

autor

Stadler A. W.

• Rzeszow University of Technology, Department of Electronics Fundamentals

Bibliografia

• [1] Stadler A. W., Kolek A., Zawiślak Z., Mleczko K., Żak D., Ptak P., Szatański P.: Gaussianity evaluation of noise in RuO2 - glass resistors. Proc. XXX International Conference of IMAPS Poland Chapter, Kraków, 24-27 September 2006.
• [2] Parman C. E., Israeloff N. E., and Kakalios J.: Conductance-Noise Power Fluctuations in Hydrogenated Amorphous Silicon. Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 1097.
• [3] Kolek A.: "Szumy niskoczęstotliwościowe - metody badań eksperymentalnych", Oficyna Wydawnicza Pol. Rzeszowskiej, Rzeszów, 2006.
• [4] Seidler G. T., Solin S. A., and Marley A. C.: Dynamical Current Redistribution and Non-Gaussian 1/f Noise. Phys. Rev. Lett. 76 (1996) 3049.