Automatyzacja wstawiania punktów testowych w układzie cyfrowym

• Autorzy: Sidlarewicz A. , Piwowarska E.

Warianty tytułu

EN

Automation of test points insertion in digital circuit

• Konferencja: Technologia elektronowa : ELTE' 2004 : konferencja naukowa (8 ; 19-22.04.2004 ; Stare Jabłonki, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaprezentowano metodę wstawiania punktów testowych w modelu VHDL układu cyfrowego. Opracowane zostały dwie aplikacje. W pierwszej z nich zaimplementowano algorytm automatyzacji wstawiania punktów testowych. Druga aplikacja zawiera obliczenia parametrów, takich jak np. pokrycie uszkodzeń, będące podstawą oceny efektywności wstawienia punktów testowych do układu.

EN

In this work a method of automation of test points insertion in VHDL model was elaborated. Two applications were written. In the first one an algorithm of automation of test points insertion was implemented. The second application calculates the efficiency factors of test points insertion, such as fault coverage.

Słowa kluczowe

PL

wstawianie punktów testowych; SSL; sterowalność; obserwowalność; detekowalność

EN

test points insertion; controllability; observability; detectability; SSL

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 46, nr 2-3
• Strony: 32--35
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Sidlarewicz A.

• Politechnika Warszawska, Instytut Mikroelektronniki i Optoelektroniki

autor

Piwowarska E.

• Politechnika Warszawska, Instytut Mikroelektronniki i Optoelektroniki

Bibliografia

• 1. Boubezari S., Kamińska B., Nadeau-Dostie B.: IEEE Transactions on Computer Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 18, no. 9, 1999.
• 2. Kraśniewski A.: Projektowanie samotestowalnych układów cyfrowych wielkiej skali integracji. WPW, Elektronika, z. 83, 1989.
• 3. Kraśniewski A.: Materiały dydaktyczne do przedmiotu PWSC.
• 4. De Micheli G.: Synteza i optymalizacja układów cyfrowych. WNT, Warszawa, 1998.