PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Optoelektroniczny długościomierz cyfrowy o podwyższonej rozdzielczości

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Optoelectronics digital length measuring gauge with improved resolution
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pierwszej części artykułu omówiono ogólne zasady optoelektronicznych układów pomiarowych, w których wykorzystuje się zjawisko mory oraz metody zwiększania ich rozdzielczości pomiarowej. W drugiej części przedstawiono najnowsza konstrukcję optoelektronicznego długościomierza cyfrowego opracowanego i wykonanego w Instytucie metrologii i Systemów Pomiarowych.
EN
In the first part of the paper general principles of opto-electronic moire measurement systems are described. Moreover methods of obtaining their resolution increase are discussed there. In the second part the newest construction of opto-electronic lenth-meter, designed in Institute of Metrology and Measurement Systems is presented.
Wydawca
Rocznik
Strony
4--8
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys.
Twórcy
  • Politechnika Warszawska
  • Politechnika Warszawska
  • optoelektroniczne przy
Bibliografia
  • [1] L. Wronkowski: Teoriai i zastosowania optoelektronicznych inkrementalnych układów pomiarowych przeznaczonych do pomiaru długości. Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej 1990z. 141
  • [2] L. Wronkowski: Signal transducing in optoelectronic measurement systems based on the moire phenomenon. Optical Engineering. ¡992. Vol. 31, no 3
  • [3] A. Olszak, L. Wronkowski: Analysis of the Fresnel field of a double diffraction systems in the case of two amplitude diffraction gratings under partially coherent illumination. Optical Engineering. 1997, vol. 36, no 3
  • [4] L. Wronkowski: Prognozowanie finalnych dokładności optoelektronicznych przetworników pomiaru przemieszczeń. 1993, Mat. konf: Metrologia wspomagana komputerami, Zegrze k/ Warszawy
  • [5] L. Wronkowski: Układy detekcyjne w optoelektronicznych przyrządach pomiarowych. 1994, Mat konf.: Czujniki optyczne i elektroniczne. Zegrze k/Warszawy
  • [6] T. Karczmarczyk: Proces interpolacji, a rozdzielczość przyrządów do pomiaru długości. Mat. Sympozjum Metrologia'89, Warszawa 1989
  • [7] L. Wronkowski: Optyczne przesuwniki fazy i ich wpływ na dokładność pracy optoelektronicznych przetworników inkrementalnych. 1988. Rozprawy Elektrotechniczne. PAN, tom 34, z. 2
  • [8] T. Karczmarczyk, L. Wronkowski: Rodzina optoelektronicznych długościomierzy cyfrowych. Mat. Sympozjum Metrologia’89, Warszawa 1989
  • [9] H. Swatek: Langenmessung auf 1/100 um - keine Utopie mehr. Der Wirtschaflsingenieur, Nr 16, 1984
  • [10] P. Sekuła, L. Wronkowski: Digital method of enlargement of resolution and accuracy of the optoelectronic measuring systems. 1997, Proceedings of the 11th European Conference on Solid-Slate Transducers, vol. 3.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW9-0007-1344
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.