Pomiary parametrów termicznych regulatora napiecia L296 metodami optycznymi

• Autorzy: Górecki K. , Zarębski J. , Jóźwik A. , Krupa J. , Posobkiewicz K. , Piotrowicz M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono wyniki pomiarów parametrów termicznych monolitycznego impulsowego regulatora napięcia stałego typu L296, uzyskane przy wykorzystaniu metod optycznych. Badania przeprowadzono dla różnych punktów pracy oraz różnych sposobów mocowania badanego regulatora. Na podstawie uzyskanych termogramów dokonano oceny nierównomierności rozkładu temperatury na powierzchni obudowy badanego regulatora.

Słowa kluczowe

PL

regulator napięcia L296

EN

voltage regulator L296

• Wydawca: Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Mikroelektronika i Informatyka : prace naukowe
• Rocznik: 2006
• Tom: Z. nr 6
• Strony: 9--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Górecki K.

autor

Zarębski J.

autor

Jóźwik A.

autor

Krupa J.

autor

Posobkiewicz K.

autor

Piotrowicz M.

• Akademia Morska w Gdyni. Katedra Elektroniki Morskiej

Bibliografia

• [1] J. Zarębski: Modelowanie, symulacja i pomiary przebiegów elektrotermicznych w elementach półprzewodnikowych i układach elektronicznych. Prace Naukowe Wyższej Szkoły Morskiej w Gdyni, Gdynia, 1996.
• [2] W. Janke: Zjawiska termiczne w elementach i układach półprzewodnikowych. WNT, Warszawa, 1992.
• [3] Napieralski A.: Komputerowe projektowanie układów półprzewodnikowych mocy ze szczególnym uwzględnieniem ich właściwości termicznych. Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej, Nr 562, Łódź 1988.
• [4] Posobkiewicz K.: Modelowanie l analiza wybranej klasy stabilizatorów impulsowych ze szczególnym uwzględnieniem zjawisk termicznych.Praca doktorska. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki Politechniki Łódzkiej, 2005.
• [5J Rubin S., Oettinger F.: Thermal Resistance Measurement on Power Transistors. National Bureau of Standards, NBS 400-14, U.S. Dept. of Commerce, 1979.
• [6] Górecki K., Zarębski J., Piotrowicz M.: Pomiary parametrów termicznych bipolarnego tranzystora małej mocy. Mikroelektronika i Informatyka, Nr 3, 2003, s. 55.
• [7] Górecki K., Zarębski J.: Pomiary rezystancji termicznej tranzystorów mocy z wykorzystaniem metod pirometrycznych. Pomiary. Automatyka, Kontrola PAK, Nr l, 2003, s. 41.
• [8] Instrukcja obsługi pirometru przenośnego PT - 3S, Optex Co., LTD., 1997.
• [9] Rzeczkowski M, Brudnowski M., Paliwoda R.: Optoelektronika profilem działalności polskiej firmy high-tech. Elektronika, Not-sigma, Warszawa, Nr 5, 2005, ss. 18-27.
• [10] Jurewicz A., Janke W.: Rezystancja termiczna elementów elektronicznych i jej zależność od temperatury. Elektronika, Nr 9, 1994, ss. 8-10.
• [11] Zarębski J.: Wielkosygnałowa analiza oddziaływań elektrotermicznych w układach półprzewodnikowych. Rozprawa doktorska.Politechnika Gdańska, Gdańsk 1986.
• [12] Radiatory. ?Kiedy i jak je stosować. Elektronik Elektor, Nr 7, 1994, ss. 43- 48.