PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 61, No. 1
Czasopismo
International Journal of Electronics and Telecommunications
Wydawca
Polish Academy of Sciences, Committee of Electronics and Telecommunication
Rocznik
2015
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 61, No. 1
artykuł:
On Some Aspects of Genetic and Evolutionary Methods for Optimization Purposes
(
Woźniak M.
,
Połap D.
), s. 7-16
artykuł:
A Software Architecture Assisting Workflow Executions on Cloud Resources
(
Borowik G.
,
Woźniak M.
,
Fornaia A.
,
Giunta R.
,
Napoli C.
,
Pappalardo G.
,
Tramontana E.
), s. 17-22
artykuł:
E-learning in College on the Example of Academy of Special Education
(
Romaniuk M. W.
), s. 25-29
artykuł:
New Synchronization Method for Transmission Systems with Variable Length of Bits
(
Godek J.
,
Golański R.
,
Kołodziej J.
,
Stępień J.
), s. 31-36
artykuł:
Songs Recognition Using Audio Information Fusion
(
Biernacki P.
), s. 37-41
artykuł:
Survey of Radio Navigation Systems
(
Gilski P.
,
Stefański J.
), s. 43-48
artykuł:
Committee of Electronics and Telecommunications Polish Academy of Sciences : structure, activities, perspectives
(
Modelski J.
,
Romaniuk R.
), s. 49-56
artykuł:
Automatic Test Bench for Selected Transmission Parameters of Power Line Conductors
(
Chruszczyk Ł.
), s. 59-65
artykuł:
New Structure of Test Pattern Generator Stimulating Crosstalks in Bus-type Connections
(
Garbolino T.
), s. 67-75
artykuł:
Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits
(
Grzechca D. E.
), s. 77-82
artykuł:
New Aspects of Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits
(
Tadeusiewicz M.
,
Hałgas S.
,
Kuczyński A.
), s. 83-93
artykuł:
Identification of Circuit Parameters for the Specified or Measured Performances
(
Rutkowski J.
), s. 95-100
artykuł:
Test Procedures for Synchronized Oscillators Network CMOS VLSI Chip
(
Kowalski J.
,
Strzelecki M.
), s. 101-107
artykuł:
The On-line Evolutionary Method for Soft Fault Diagnosis in Diode-transistor Circuits
(
Korzybski M.
,
Ossowski M.
), s. 109-115
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.