Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych

• Autorzy: Mrozek I. , Yarmolik V.

Identyfikatory

DOI

10.15199/13.2015.8.15

Warianty tytułu

EN

Optimal controlled random test generation

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Jedną ze standardowych technik stosowanych w procesie testowania zarówno systemów elektronicznych jak i oprogramowania jest technika testów losowych. Standardowe testy losowe nie wykorzystują jednak informacji jakie są dostępne w środowisku testowania czarnej skrzynki. Informacja ta wykorzystywana jest w wypadku kontrolowanego generowania testów losowych (ang. Contrlled Random Tests), co w sposób znaczny pozwala zwiększyć efektywność realizowanych testów. W artykule przeanalizowane zostały podstawowe metryki odnoszące się do pomiaru zróżnicowania generowanych wzorców testowych. Maksymalizacja przedstawionych metryk pozwoliła wygenerować optymalny kontrolowany test losowy (ang. Optimal Controlled Random Test – OCRT), a następnie zaproponować algorytm, o niskiej złożoności obliczeniowej, pozwalający na automatyzację procesu generowania testów optymalnych.

EN

Random testing is a low cost method that is successfully applied to a wide range of testing problems. Standard random testing does not exploit some information that is available in black box testing environment. Therefore controlled approach to random testing (Controlled Random Tests) may be used. In the paper basic metrics to generate controlled random tests are considered. Optimization of the numerical values of these metrics allowed to define both optimal controlled random test and easy computationally algorithm to generate these tests.

Słowa kluczowe

PL

generowanie testów kontrolowanych; testy losowe; testy antylosowe

EN

controlled random tests generation; random tests; antirandom tests

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2015
• Tom: Vol. 56, nr 8
• Strony: 64--66
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., tab.

Twórcy

autor

Mrozek I.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki

autor

Yarmolik V.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki

Bibliografia

• [1] Nagle, H., Roy, S., Hawkins, C., McNamer, M. and Fritzemeier, R. Design for testability and built-in self-test: a review, Industrial Electronics, IEEE Transactions on 36(2), 1989, 129–140.
• [2] McCaffrey, J. D. An empirical study of the effectiveness of partial antirandom testing, Proceedings of the 18th International Conference on Software Engineering and Data Engineering, SEDE, 2009, pp. 260–265.
• [3] Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing, Trans. of IEICE (Transactions of the Institute of electronics, information and communication engineers) E72(5), 1989, pp. 656–660.
• [4] Kuhn, R. D. and Okum, V. Pseudo-exhaustive testing for software, Proceedings of the 30th Annual IEEE/NASA Software Engineering Workshop, IEEE Computer Society, Washington, DC, USA, 2006, pp. 153–158.
• [5] Das, D. and Karpovsky, M. Exhaustive and nearexhaustive memory testing techniques and their BIST implementations., Journal of Electronic Testing 10(3), 1997, 215–229.
• [6] Gupta, S., Rajski, J. and Tyszer, J. Arithmetic additive generators of pseudo-exhaustive test patterns, IEEE Transactions on Computers 45, 1996, 939–949.
• [7] Yarmolik, S. Iterative near pseudoexhaustive random testing, Informatics 2(26), 2010, pp. 66–75.
• [8] Wang, L. and McCluskey, E. Circuits for pseudoexhaustive test pattern generation, IEEE Transactions on CAD of Integrated Circuits and Systems, 1988, pp. 1068–1080.
• [9] Grindal, M., Offutt, J. and Andler, S. F. Combination testing strategies – a survey, Technical Report ISE-TR-04-05, 2004, GMU Technical Report.
• [10] Malaiya, Y. K. and Yang, S. The coverage problem for random testing, Proceedings of the 1994 IEEE International Test Conference, ITC ’84, 1984, pp. 237–245.
• [11] Shahbazi, A., Tappenden, A. F. and Miller, J. Centroidal voronoi tessellations – a new approach to random testing, IEEE Transactions on Software Engineering 39(2), 2013, pp. 163–183.
• [12] Malaiya, Y. K. Antirandom testing: Getting the most out of blackbox testing, Proceedings of 6th IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering, ISSRE ’95, IEEE Computer Society, 1995, pp. 86–95.
• [13] Mrozek, I. and Yarmolik, V. N. Antirandom test vectors for BIST in hardware/software systems, Fundam. Inform., 119(2), 2012, 163–185.
• [14] Xu, S. and Chen, J. Maximum distance testing, w Asian Test Symposium, 2002, pp. 15–20.

Uwagi

PL

Artykuł powstał w ramach realizacji pracy statutowej S/WI/3/13 na Wydziale Informatyki Politechniki Białostockiej.