BazTech - Yadda

1

Programy symulacyjne elektronicznych układów analogowych

Hulewicz A., Krawiecki Z.

Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering

|

2016

|

No. 88

57--66

PL

Tematyka artykułu dotyczy obszaru badań związanych z symulacją elektronicznych układów analogowych, wykorzystywanych podczas projektowania. Przedstawiono właściwości wybranych programów do symulacji układów elektronicznych (Multisim, LTSpice IV oraz Protel 99SE), które zdaniem autorów są najczęściej wykorzystywane podczas projektowania. Zaprezentowano wybrane wyniki symulacji dla czterech wybranych układów (wzmacniacza odwracającego, nieodwracającego, wtórnika i detektora wartości szczytowej) oraz porównano je z wynikami pomiarów otrzymanych dla układów rzeczywistych. Zaproponowane układy analogowe są układami, które najczęściej współpracują z systemami pomiarowymi, a zaprezentowane charakterystyki pozwalają ocenić, który program z największym prawdopodobieństwem odzwierciedli rzeczywiste parametry układu.

EN

The subject of this article concerns an area related to the simulation of electronic analog circuits used during their designing. The properties of selected programs for the simulation of electronic circuits (Multisim, LTSpice IV and Protel 99SE) were presented, which according to the author are most commonly used during their designing. The selected simulation results for four selected circuits (the inverting amplifier, the noninverting amplifier, the voltage follower and the peak detector) were shown and they were compared with the measurements results obtained for real circuits. The proposed analog circuits are ones that frequently work with the measurement systems and the presented characteristics allow us to evaluate which program is most likely to reflect the actual parameters of the circuit.

2

Ocena parametrów statycznych diod Schottky'ego z SiC

Szewczyk A., Konczakowska A., Stawarz-Graczyk B.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 6

13-15

PL

Przedstawiono wyniki pomiarów parametrów statycznych 3 prób diod Schottkyego produkcji CREE i 2 prób diod Schottkyego produkcji INFINEON. Stwierdzono, że charakterystyki przy polaryzacji diod w kierunku przewodzenia są w zasadzie identyczne, natomiast przy polaryzacji w kierunku zaporowym wykazują istotne różnice, szczególnie w zakresie napięć w kierunku zaporowym powyżej 600 V.

EN

The static parameters measurements results of 3 sam pies of CREE SiC Schottky diodes and 2 sam pies of INFINEON SiC Schottky diodes are presented. Measured forward characteristics for each sample showexcellent reproducibility, whereas the reverse characteristics significantly differ for devices from each sampies, especially for reverse voltage higher than 600 V.

3

Badania doświadczalne nad ściskaniem prętów pryzmatycznych w zakresie odkształceń sprężysto-plastycznych

Odorowicz J.

Drogi i Mosty

|

2004

|

nr 3

53-90

PL

Praca zawiera analizę stateczności ściskanych prętów pryzmatycznych o przekroju kołowym pełnym, w zakresie odkształceń sprężysto-plastycznych. Rozważane są smukłości [wzór] jest granicą proporcjonalności oraz smukłość [lambda] rozdziela zakres odkształceń sprężystych od zakresu sprężysto-plastycznego. Przedstawiono opis badań eksperymentalnych oraz analizę wyników tych badań na podstawie zaproponowanych przez autora wzorów określających parametry statyczne i geometryczne, pręta materialnego oraz wartość energii i pracy sił zewnętrznych stanu krytycznego i nadkrytycznego. Badania uzupełniono obliczeniami współczynnika pewności konstrukcji, który wg zaproponowanej w pracy teorii ma wartości znacznie mniejsze niż te wynikające z normy PN-90/B-03200 dotyczącej obliczeń statycznych i projektowania konstrukcji stalowych. W analizie uwzględniono, wynikający z badań eksperymentalnych przebieg próby ściskania, w której ściskany pręt zachowuje postać prostoliniową tylko w pierwszym etapie próby. Przy sile [wzór] gdzie PE jest wyznaczoną przez Eulera wartością siły krytycznej, występuje krytyczne skrócenie jego osi a pręt staje się nieściśliwy. Powyżej tej siły obserwuje się ugiętą stateczną postać pręta. Pręt osiąga energię potencjalną równą maksymalnej energii sprężystej wynikającej ze struktury materiału i kształtu przekroju poprzecznego pręta. Odkształcenia trwałe pojawiają się przy obciążeniu siłą P > PE, przy której materiał pręta ulega wzmocnieniu.

EN

The paper refers to stability of compressed prismatic beam columns of circular and filled section, in the rangę of elasto-plastic deformation. The slendernesses ratio is taken from [wzór] is Young modulus, [wzór] is the proportional limit and slenderness \. divides elastic and elasto-plastic ranges of deformation. The original experimental test is described and anałysis ofexperimental results is carried out with respect to the proposed by author formulas for determinig both the static and geometrie parameters of beam column as well as the energy and the work of external forces relating to critical and supercritical states. The research is complemented by calculation of safety factor, which due to proposed by author anałysis is much Iower than that proposed by Polish standard PN-76/B-03200, on static anałysis and design of steel structures. The presented approach follows the experimental tests on column buckling, namely the column preseved its straight shape oniy untii the loading reach the value of [wzór], where Pg is the Euler value of critical force. At this level of loading the critical compressing occurs and the column axis becames uncompressible. For higher values of the loading the process goes on with the stable bent shape and at the critical state, determined by the force Pg, the stable bent shape occurs concequently. The potential energy at critical state is equal to the maximum value of the energy of elastic deformation. This value depends on the materiał mechanical properties and the shape ofcross-section. Forthe forces higher than Pg the plastic strains and the materiał strengthening occurs.