PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 36, nr 5
Czasopismo
Electron Technology : Internet Journal
Wydawca
Institute of Electron Technology
Rocznik
2004
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 36, nr 5
artykuł:
Distribution of potential barrier height local values at Al-SiO₂ and Si-SiO₂ interfaces of the metal-oxide-semiconductor (MOS) structures
(
Piskorski K.
,
Przewlocki H. M.
), s. 1-5
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.