PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
nr 2
Czasopismo
Journal of Telecommunications and Information Technology
Wydawca
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Rocznik
2007
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
nr 2
artykuł:
SOI nanodevices and materials for CMOS ULSI
(
Palestra F.
), s. 3-13
artykuł:
Special size effects in advanced single-gate and multiple-gate SOI transistors
(
Ohata A.
,
Ritzenthaler R.
,
Faynot O.
,
Cristoloveanu S.
), s. 14-24
artykuł:
Challenges for 10 nm MOSFET process integration
(
Östling M.
,
Malm B. G.
,
Haartman M.
,
Hallstedt J.
,
Zhang Z.
,
Hellström P. E.
,
Zhang S.
), s. 25-32
artykuł:
Review and perspective of high-k dielectrics on silicon
(
Hall S.
,
Buiu O.
,
Mitrovic I. Z.
,
Lu Y.
,
Davey W. M.
), s. 33-43
artykuł:
Semiconductor cleaning technology for next generation material systems
(
Ruzyllo J.
), s. 44-48
artykuł:
Development of 3C-SiC MOSFETs
(
Bakowski M.
,
Schöner A.
,
Ericsson P.
,
Strömberg H.
,
Nagasawa H.
,
Masayuki A.
), s. 49-56
artykuł:
Properties and benefits of fluorine in silicon and silicon-germanium devices
(
Ashburn P.
,
El Mubarek H. A. W.
), s. 57-63
artykuł:
Low frequency noise in Si and Si/SiGe/Si PMOSFETs
(
Thomas S. M.
,
Prest M. J.
,
Fulgoni D. J. F.
,
Bacon A. R.
,
Grasby T. J.
,
Leadley D. R.
,
Parker E. H. C.
,
Whall T. E.
), s. 64-68
artykuł:
On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies
(
Lederer D.
,
Raskin J. P.
), s. 69-77
artykuł:
Evaluation of MOSFETs with crystalline high-k gate-dielectrics: device simulation and experimental data
(
Zaunert F.
,
Endres R.
,
Stefanov Y.
,
Schwalke U.
), s. 78-85
artykuł:
Energy concepts involved in MOS characterization
(
Engström O.
,
Gutt T.
,
Przewłocki H. M.
), s. 86-91
artykuł:
Modeling of negative bias temperature instability
(
Grasser T.
,
Selberherr S.
), s. 92-102
artykuł:
Modeling of voice data integrated traffic in 3G mobile cellular network
(
Islam I.
,
Das J. K.
,
Hossain S.
), s. 103-108
artykuł:
Simple method for characterization of photonic crystal fibers
(
Szustakowski M.
,
Pałka N.
,
Grabiec W.
), s. 109-113
artykuł:
Availability analysis and comparison of different WDM systems
(
Rados I.
), s. 114-119
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.