PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 6, No. 4
Czasopismo
Opto-Electronics Review
Wydawca
Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Polska Akademia Nauk
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Rocznik
1998
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 6, No. 4
artykuł:
Fourier spectrometry and its applications
(
Jóźwicki R.
,
Rataj M.
), s. 233-244
artykuł:
Photothermoplastic system for holographic interferometry
(
Fitio W. M.
,
Bobitski Y. W.
), s. 245-250
artykuł:
Intrinsic micro-quantity of chaos (thermal black body radiation, photocurrents)
(
Salkov E. A.
), s. 251-256
artykuł:
Far infrared photoelectric phenomenain gapless Hg1-xCdxTe
(
Gasan-Zade S. G.
,
Salkov E. A.
,
Shepelskii G. A.
), s. 257-262
artykuł:
Experimental verification of a method of director field determination in liquid crystalline layer
(
Walczak A.
), s. 262-268
artykuł:
High-speed DC optical receiver for measurement applications
(
Śliwczyński Ł.
,
Krehlik P.
), s. 269-272
artykuł:
Applications of chalcogenide glasses and structures on their base in microlithography
(
Kostyukevych S. A.
), s. 271-278
artykuł:
HgCdTe photodiodes versus quantum well infrared photoconductors for long wavelength focal plane arrays
(
Rogalski A.
), s. 279-294
artykuł:
Non-linear annealing effect on Raman scattering of porous silicon layers
(
Dimitrov D. B.
,
Savatinova I.
,
Liarokapis E.
), s. 295-298
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.