PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
T. 40, nr 2
Czasopismo
Materiały Elektroniczne
Wydawca
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Rocznik
2012
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
T. 40, nr 2
artykuł:
Poprawa jakości polerowanych płytek SiC metodą chemicznego utleniania i obróbki termicznej. Badania jakości powierzchni metodami rentgenowskimi
(
Sakowska H.
,
Mazur K.
,
Teklińska D.
,
Wierzchowski W.
,
Wieteska K.
,
Gała M.
), s. 3-10
artykuł:
Zastosowanie spektroskopii odbiciowej w dalekiej podczerwieni do charakteryzacji zwierciadeł Bragga z AlAs/GaAs
(
Możdżonek M.
,
Gaca J.
,
Wesołowski M.
), s. 11-16
artykuł:
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
(
Pawłowski M.
,
Suproniuk M.
), s. 17-27
artykuł:
Badanie mikroporowatości polerowanej powierzchni płytek krzemowych w celu dostosowania sposobu ich wytwarzania do nowych wymagań jakościowych
(
Piątkowski B.
,
Szymański S.
), s. 28-33
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.