Materiały Elektroniczne - Tom T. 39, nr 3 (2011) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

T. 39, nr 3

Czasopismo

Materiały Elektroniczne

Wydawca

Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Rocznik

2011

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

T. 39, nr 3
- artykuł: Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych (Dąbrowska E., Teodorczyk M., Sobczak G., Malag A.), s. 3-9
- artykuł: Optymalizacja wytwarzania pierwszego złącza trójzłączowych ogniw słonecznych na bazie związków InGaP/InGaAs/Ge (Dumiszewska E., Knyps P., Teodorczyk M., Wesołowski M., Strupiński W.), s. 10-14
- artykuł: Charakteryzacja warstw epitaksjalnych z tellurku kadmowo-rtęciowego (Hg1-XCdXTe) za pomocą wykonanych fotodiod (Królicka A.), s. 14-29
- artykuł: Oznaczanie zawartości Cr(VI) w powłokach cynkowych, pasywowanych chromem (Zalewska I., Sokołowska W., Karaś A., Jusis A.), s. 30-33

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.