Materiały Elektroniczne - Tom T. 36, nr 3 (2008) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

T. 36, nr 3

Czasopismo

Materiały Elektroniczne

Wydawca

Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Rocznik

2008

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

T. 36, nr 3
- artykuł: Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR (Mazur K., Sass J., Surma B., Piątkowski B., Wnuk A., Gładki A., Turos A.), s. 5-22
- artykuł: Wytworzenie i charakteryzacja całoszklanego włókna z przerwą fotoniczną (Kujawa I., Pysz D., Filipkowski A., Nowosielski J., Buczyński R., Stępień R.), s. 23-38
- artykuł: Kompatybilność materiałów w bezołowiowym systemie rezystywnym (Kiełbasiński K.), s. 39-46
- artykuł: Elektrochemiczne osadzanie gradientowych powłok stopowych Ni-P (Wiliński Z., Lipińska L., Rzepka A., Batijewski R.), s. 47-62
- artykuł: Zastosowanie selektywnego trawienia chemicznego do określenia położenia ścięć bazowych na monokrystalicznych płytkach o orientacji (100) związków półprzewodnikowych typu AIIIBV (Pawłowska J., Bańkowska A.), s. 63-75
- artykuł: Pomiar koncentracji nośników ładunku w płytkach monokryształów objętościowych i warstwach epitaksjalnych SiC za pomocą sondy rtęciowej (Brzozowski A.), s. 76-91
- artykuł: Resistive pressure sensors fabricated from polymer thick film composites containing carbon nanotubes (Jakubowska M., Łukasik M., Młożniak A., Słoma M.), s. 92-100
- artykuł: Technological aspects of automated selective systems application in conformal coating processing (Witek K., Skwarek A., Grzesiak W., Gara R.), s. 101-109
- artykuł: Electronic properties of thin niobium doped barium titanate films (Firek P., Ćwil M., Werbowy A., Szmidt J.), s. 110-116
- artykuł: Study of structural and optical properties of TiO2:(Eu, Pd) thin films deposited by magnetron sputtering (Kaczmarek D., Domaradzki J., Prociow E. L., Wojcieszak D., Michalec B.), s. 117-127
- artykuł: The main properties of amorphous antireflective coating for silicon solar cells (Swatowska B., Stapiński T.), s. 128-137
- artykuł: Dielectric properties of perovskite multiferroic Pb(Fe0.5Nb0.5)O3-Bi0.95Dy0.05FeO3 thick films (Stoch A., Kulawik J., Szwagierczak D., Groger B.), s. 138-150
- artykuł: Prof. Witold Rosiński - nestor polskiej elektroniki sam o sobie (Rosiński W.), s. 151-163

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.