Materiały Elektroniczne - Tom T. 28, nr 3 (2000) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

T. 28, nr 3

Czasopismo

Materiały Elektroniczne

Wydawca

Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Rocznik

2000

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

T. 28, nr 3
- artykuł: Effect of mullite layer thickness and composition on fracture toughness of layered alumina/mullite composites. (Tomaszewski H., Boniecki M., Węglarz H.), s. 5-19
- artykuł: Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych. (Wójcik M., Gaca J., Turos A., Strupiński W.), s. 20-49
- artykuł: Naprężenia własne termiczne w spajanych leementach ceramiki AIN z miedzią. (Kaliński D., Olesińska W.), s. 50-62
- artykuł: Wpływ obecności niewielkiej ilości ciekłego srebra na spiekanie aktywowane szkieletów wolframowych o dużej porowatości. (Wójcik-Grzybek D., Frydman K., Kaliszuk K., Zasada D.), s. 63-77

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.