Materials Science - Tom Vol. 21, No. 3 (2003) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 21, No. 3

Czasopismo

Materials Science

Wydawca

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Rocznik

2003

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 21, No. 3
- artykuł: Semiconductor heterostructures and device structures investigated by photoreflectance spectroscopy (Misiewicz J., Sitarek P., Sęk G., Kudrawiec R.), s. 263-318
- artykuł: Combined SNOM/AFM microscopy with micromachined nanoapertures (Radojewski J., Grabiec P.), s. 319-332
- artykuł: Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics (Gotszalk T. P., Grabiec P., Rangelow I. W.), s. 333-338
- artykuł: Thermal characterization of copper thin films made by means of sputtering (Szeloch R. F., Posadkowski W. M., Gotszalk T. P., Janus P., Kowaliw T.), s. 339-343
- artykuł: Wavelet shrinkage-based noise reduction from the high resolution X-ray images of epitaxial layers (Kozłowski J., Serafińczuk J., Kozik A.), s. 345-356
- artykuł: The hydrogenation process of the Gd3Ni compound (Tristan N. V., Palewski T., Drulis H., Folcik L., Nikitin S. A.), s. 357-361

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.