PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
R. 49, nr 10
Czasopismo
Pomiary Automatyka Kontrola
Wydawca
Wydawnictwo PAK
Rocznik
2003
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
R. 49, nr 10
artykuł:
System zabezpieczenia metrologicznego resortu Obrony Narodowej w zmieniających się uwarunkowaniach prawno-organizacyjnych
(
Dąbrowski S.
), s. 3-7
artykuł:
Centralny Ośrodek metrologii Wojskowej - 40 lat w służbie metrologicznego zabezpieczenia sił zbrojnych Rzeczypospolitej Polskiej
(
Twarogowski J.
), s. 8-12
artykuł:
Szkolenie kadr metrologicznych dla potrzeb resortu Obrony Narodowej
(
Wielemborek J.
), s. 13-14
artykuł:
System jakości wojskowego laboratorium metrologicznego
(
Matras T.
), s. 15-18
artykuł:
Szacowanie i wyrażanie niepewności pomiaru w centralnym Ośrodku Metrologii Wojskowej
(
Woźniak E.
), s. 19-22
artykuł:
Zdalne porównanie wzorców czasu i częstotliwości COMW z GUM metodą Common View opartą o GPS. Realizacja lokalnej skali czasu UTC w COMW i dystrybucji czasu w sieci lokalnej COMW
(
Targos R.
,
Małkiński A.
), s. 23-26
artykuł:
Analiza możliwości dopasowania złącz pomiarowych w normach IEC i GOST w ramach pomiarów mikrofalowych w technice wojskowej
(
Wiśniakowski P.
,
Więckiewicz M.
), s. 27-29
artykuł:
Zabezpieczenie metrologiczne stacji kontrolno-pomiarowych pól fizycznych okrętów
(
Bobrowicz A.
,
Ogonowski A.
), s. 30-32
artykuł:
Nowoczesne metoy diagnozowania uszkodzeń przyrządów pomiarowych
(
Hojda J.
,
Zięba J.
), s. 33-35
artykuł:
Automatyzacja procesów kalibracji przyrządów pomiarowych i infrastruktura informatyczna w COMW
(
Łoś D.
,
Rusin M.
), s. 36-39
artykuł:
Wzorcowanie przyrządów pomiarowych monitorujacych warunki odniesienia w laboratoriach pomiarowych
(
Modzelewski W.
), s. 40-42
artykuł:
Zabezpieczenie metrologiczne przyrządów do pomiaru promieniowania jonizującego stosowanych w Siłach Zbrojnych RP
(
Marczyk D.
), s. 43-45
artykuł:
DEA - wiodący w świecie producent współrzędnościowych maszyn pomiarowych
(
Śniatowski W.
), s. 50-50
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.