PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 44, nr 2
Czasopismo
Nukleonika
Wydawca
Institute of Nuclear Chemistry and Technology
Rocznik
1999
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 44, nr 2
artykuł:
Thermally activated defect transformations in III-V compound semiconductors
(
Turos A.
,
Stonert A.
,
Breeger B.
,
Wendler E.
,
Wesch W.
), s. 93-102
artykuł:
SIMS study of low energy implantation
(
Hereć J.
,
Filiks J.
,
Sielanko J.
), s. 103-110
artykuł:
Positive and negative ion production in the ion sputtering process
(
Droździel A.
,
Kornarzyński K.
,
Romanek J.
,
Mączka D.
,
Latuszyński J.
), s. 111-118
artykuł:
Negative ion source for SIMS application
(
Hereć J.
,
Filiks J.
,
Sowa M.
,
Sielanko J.
,
Mączka D.
), s. 119-128
artykuł:
Application of simulation tools for design of large area silicon photodetector technology
(
Jaroszewicz B.
,
Tomaszewski D.
,
Słysz W.
,
Grabiec P.
,
Jung W.
), s. 129-136
artykuł:
Cold hollow cathode ion source
(
Kiszczak K.
), s. 137-142
artykuł:
Sample rotation applied in the SIMS depth profile analysis of layered structures
(
Konarski P.
), s. 143-148
artykuł:
Atom ionization in the high temperature cavity thermoionizer
(
Latuszyński A.
,
Mączka D.
), s. 149-154
artykuł:
Three-dimensional surface imaging by the directional signal detection
(
Słówko W.
), s. 155-160
artykuł:
Electron optical properties of retarding lenses for the low voltage SEM
(
Drzazga W.
,
Słówko W.
), s. 161-166
artykuł:
Oxide layers on implanted GaAs surfaces: X-ray photoelectron spectroscopy and ellipsometry study
(
Kulik M.
,
Saied S.O.
,
Liśkiewicz J.
), s. 167-174
artykuł:
Interaction between pre-existing dislocations in silicon and hydrogen-induced defects introduced by plasma treatment
(
Milchanin O.V.
,
Gaiduk P.I.
,
Komarov F.F.
), s. 175-180
artykuł:
The energy loss of swift ions in solids
(
Nickel F.
), s. 181-188
artykuł:
Wurtzite InP phase formation during swift Xe ion irradiation
(
Gaiduk P.I.
,
Komarov F.F.
,
Herre O.
,
Wendler E.
,
Wesch W.
), s. 189-194
artykuł:
Friction and wear processes modification on ion implanted steel
(
Kamieńska-Krzowska B.
,
Tarkowski P.
), s. 195-200
artykuł:
Formation of horizontal and vertical insulation in semiconductors by ion implantation
(
Komarov F.F.
,
Kamyshan A.M.
,
Mironov A.M.
), s. 201-206
artykuł:
Effect of nitrogen, carbon and oxygen ion imlantation on the structure and corrosion resistance of OT-4-0 titanium alloy
(
Krupa D.
,
Baszkiewicz J.
,
Jezierska E.
,
Kozubowski J.
,
Barcz A.
), s. 207-216
artykuł:
Implantation of boron ions into hard metals
(
Mrochek I.
,
Gunzel R.
,
Matz W.
,
Moller W.
,
Anishchik V.
), s. 217-224
artykuł:
Wear properties of TiN coated cutting tools implanted with nitrogen ions
(
Narojczyk J.
,
Piekoszewski J.
,
Richter E.
,
Werner Z.
), s. 225-230
artykuł:
Oxygen-free AlN coatings produced from AIN(O) powder in the impulse nitrogen plasma
(
Olszyna A.
,
Pawłowski P.
), s. 231-238
artykuł:
Formation of surface Pd-Ti alloys using the pulsed plasma beams
(
Piekoszewski J.
,
Werner Z.
,
Wieser E.
,
Langner J.
,
Grotzschel R.
,
Reuther H.
,
Jagielski J.
), s. 239-246
artykuł:
About possibility of improving durability of metal forming tools by ion implantation
(
Tarkowski P.
,
Łukasik K.
,
Budzyński P.
,
Liśkiewicz J.
), s. 247-252
artykuł:
AIN layers plasmochemically produced as semiconductors
(
Werbowy A.
,
Pawłowski P.
,
Siwiec J.
,
Szmidt J.
,
Olszyna A.
,
Sokołowska A.
), s. 253-260
artykuł:
Improvement of the wear properties of cutting tools implanted with nitrogen ions
(
Werner Z.
,
Jagielski J.
,
Piekoszewski J.
,
Kubiak L.
,
Gunzel R.
), s. 261-264
artykuł:
Ion-beam modification of stainless steel surface roughness
(
Wilk J.
,
Kowalski Z. W.
), s. 265-270
artykuł:
Deep ion implantation: advantages and current problems
(
Słowiński B.
), s. 271-276
artykuł:
Modification of temperature dependence of manganin resistance using the ion implantation techniques
(
Słowiński B.
,
Wilczyńska T.
,
Wiśniewski R.
), s. 277-280
artykuł:
Comparison of permittivity of ion implanted silicon and silicon bombared with neutrons
(
Żukowski P.
,
Partyka J.
,
Węgierek P.
,
Kozak M.
), s. 281-284
artykuł:
Changes in permittivity of silicon implanted through an aluminum layer
(
Żukowski P.
,
Partyka J.
,
Węgierek P.
), s. 285-288
artykuł:
A new method for determining changes in hardness of implanted materials
(
Żukowski P.
,
Karwat C.
,
Łozak M.
,
Liśkiewicz J.
), s. 289-292
artykuł:
Study of CO2 clusters by mass spectrometry
(
Dąbek J.
,
Michalak L.
), s. 293-298
artykuł:
Channelling of H0 projectile
(
Gront K.
,
Gwizdałła T.
,
Czerbniak J.
), s. 299-308
artykuł:
Element depth profiling of implanted samples
(
Kobzev A.P.
), s. 309-316
artykuł:
Electron impact study of argon clusters
(
Pelc A.
,
Michalak L.
), s. 317-328
artykuł:
Some peculiarities of the Vavilov-Cherenkov radiation emitted by heavy ions
(
Ruzicka J.
,
Saro S.
,
Krupa L.
,
Zrelov P.V.
,
Zrelov V.P.
,
Lapchik E.D.
,
Geissel H.
,
Irnich H.
,
Kozhuharov C.
,
Magel A.
,
Muenzenberg G.
,
Nickel F.
,
Scheidenberger C.
,
Schott H.-J.
,
Schwab W.
,
Stoehlker T.
,
Voss B.
), s. 329-334
artykuł:
Ion beam induced luminescence of porous silicon: a comparative study
(
Żuk J.
,
Kuduk R.
), s. 335-340
artykuł:
Similarity and differences of certain electrification processes in some fluids
(
Gacek Z.
,
Maźniewski K.
), s. 341-348
artykuł:
Electrical conductivity of implant isolation in GaAs
(
Synowiec Z.
), s. 349-356
artykuł:
Industrial Arc based equipment for decorative coating deposition
(
Marszałek K.
,
Leja E.
), s. 357-362
artykuł:
Simulation of the process of high dose ion implantation in solid targets
(
Komarov A.F.
,
Komarov F.F.
,
Żukowski P.
,
Karwat C.
,
Shukan A.L.
), s. 363-368
artykuł:
Collision cascade as a fractal
(
Martan J.
), s. 369-374
artykuł:
Model of non-continuous track formation in InP under swift ion implantation
(
Belyi V.A.
,
Komarov F.F.
), s. 375-380
artykuł:
Laser induced diffusion in Ge/Sb-Si films
(
Szyszko W.
), s. 381-392
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.