Zmiana kroku próbkowania poprzez zmianę liczby rastrów w obliczeniach wskaźników chropowatości

• Autorzy: Czarnecki H. , Chmielik I. P.

Warianty tytułu

EN

Change of sampling step through change of raster quantities in surface parameters calculations

• Konferencja: XVIII Międzynarodowa Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji, 12-16 maja 2014, Szczyrk
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W opracowaniu przedstawiono możliwości zmiany kroku próbkowania na drodze dekodowania pliku i odfiltrowania części punktów pomiarowych. Nowy krok próbkowania stanowi wielokrotność kroku, z jakim zostały uzyskane dane pomiarowe. Pozwala to na dokonywanie badań wpływu zmiany kroku próbkowania na wartości wskaźników chropowatości na podstawie bazowego pomiaru.

EN

Article presents possibilities of changing the sampling step by decoding file and filtering the measuring points. The new sampling step is a multiple of base step, which was used to obtain measured data. This approach allows to research influence of sampling step changes, on surface roughness parameters, on the basis of base measurement.

Słowa kluczowe

PL

metrologia powierzchni; programowa zmiana kroku próbkowania

EN

surfaces metrology; software alteration of sampling step

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 87, nr 7CD
• Strony: 109—116
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Czarnecki H.

• Instytut Marketingu Politechniki Częstochowskiej

autor

Chmielik I. P.

• Taylor Hobson Polska Warszawa

Bibliografia

• [1] Poon C.Y., Bhushan B.: Comparision of surface measurments by stylus profiler, AFM and non-contact optical profiler, “Wear”, 190, 1995, 76-88.
• [2] Bendat J.S., Piersol A.G.: Metody analizy i pomiarów sygnałów losowych, PWN, Warszawa, 1976.
• [3] Lin T.Y., Blunt L., Stout K.J.: Determination of proper frequency bandwidth for 3D topography measurements using spectral analysis. Part I: Isotropic surface, “Wear” 166, 1993, 221-232.
• [4] Tsukada T., Sasajima S.: An optimum sampling interval for digitalizing surface surface asperity profiles, “Wear”, 83, 1982, 119-128.
• [5] Chmielik I.P.: Parametryczna ocena struktury powierzchni po nagniataniu, praca doktorska, Politechnika Częstochowska, Częstochowa, 2012.
• [6] Nowicki N.: Struktura geometryczna, Wyd. Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1991.
• [7] Marven C., Ewers G.: Zarys cyfrowego przetwarzania sygnałów, WKŁ, Warszawa, 1999.
• [8] Thomas T.R.: Rough surfaces. Imperial College Press, London, 1999.
• [9] Tsukada T., Sasajima S.: An optimum sampling interval for digitalizing surface surface asperity profiles, “Wear”, 83, 1982, 119-128.