Opto-Electronics Review - Tom Vol. 26, No. 3 (2018) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 26, No. 3

Czasopismo

Opto-Electronics Review

Wydawca

Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Polska Akademia Nauk
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego

Rocznik

2018

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 26, No. 3
- artykuł: Nanostructures with Ge–Si quantum dots for infrared photodetectors (Izhnin I. I., Fitsych O. I., Voitsekhovskii A. V., Kokhanenko A. P., Lozovoy K. A., Dirko V. V.), s. 195--200
- artykuł: Study of the Light Emitting Diode as a photoreceptor : spectral and electrical characterization as function of temperature and lighting source (Vannacci E., Granchi S., Cecchi M., Calzolai M., Mazzi E., Biagi E.), s. 201--209
- artykuł: Optimization of optical characteristics of In0.29Ga0.71As0.99N0.01/GaAs straddled nano-heterostructure (Sandhya K., Bhardwaj G., Dolia R., Lal P., Kumar S., Dalela S., Rahman F., Alvi P. A.), s. 210--216
- artykuł: Photoacoustic spectroscopy analysis of thin semiconductor samples (Bychto L., Maliński M.), s. 217--222
- artykuł: Alternative transparent conducting electrode materials for flexible optoelectronic devices (Sharma S., Shriwastava S., Kumar S., Bhatt K., Tripathi C. C.), s. 223--235
- artykuł: Ternary photonic crystal with left-handed material layer for refractometric application (Taya S. A.), s. 236--241
- artykuł: Locally-induced permanent birefringence by polymer-stabilization of liquid crystal in cells and photonic crystal fibers (Chychłowski M. S., Ertman S., Rutkowska K., Strzeżysz O., Dąbrowski R., Woliński T. R.), s. 242--246
- artykuł: The influence of annealing on the properties of ZnO:Al layers obtained by RF magnetron sputtering (Zdyb A., Krawczak E., Gułkowski S.), s. 247--251
- artykuł: 2D-Mueller-matrix tomography of optically anisotropic polycrystalline networks of biological tissues histological sections (Trifonyuk L., Baranowski W., Ushenko V., Olarc O., Dubolazov A., Ushenko Yu., Bodnar B., Vanchulyak O., Kushnerik L., Sakhnovskiy M.), s. 252--259

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.