Termowizyjny pomiar temperatury złącza diody półprzewodnikowej

• Autorzy: Dziarski K. , Wiczyński G.

Identyfikatory

DOI

10.21008/j.1897-0737.2017.92.0026

Warianty tytułu

EN

Thermovision measurement of semiconductor diode junction temperature

• Konferencja: Computer Applications in Electrical Engineering (10-11.04.2017 ; Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań pomiarów temperatury złączą diody półprzewodnikowej zabudowanej w obudowie do montażu powierzchniowego (SOT–23), przy pomocy metody bezkontaktowej. Przedstawiono układ pomiarowy i otrzymane wyniki pomiarów oraz szczegółowe parametry diody użytej do badania. Omówiono zależność wiążącą temperaturę obudowy diody z temperaturą złącza, warunki panujące w trakcie wykonywania eksperymentu, oraz wnioski wynikające z otrzymanych wyników.

EN

Junction temperature is one of the most important parameters of semiconductor diode. Diode operation depends on this temperature, however its correct measurement is difficult because of small size of the object. Measurements are especially complex for SMT (Surface Mount Technology) diodes of size 1 to 3 mm. Application of a contact temperature sensor is inefficient. Thus, an alternative way is the noncontact thermovision measurement which can give information on temperature of the diode case. However, in practice information about diode semiconductor junction is more significant. Experimental studies of the relation between a result of diode case thermovision measurement and temperature of junction inside the case have been undertaken. BAT54C diode with two junctions in the same case for SMT was used. One junction was temperature sensor while another one operated as heater. It was found that the temperature difference was not higher than 9°C what allows us to conclude that thermovision measurement of diode junction temperature may be useful in diagnostic testing of electronic circuits.

Słowa kluczowe

PL

termowizja; dioda półprzewodnikowa; metrologia

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2017
• Tom: No. 92
• Strony: 295--305
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Dziarski K.

• Politechnika Poznańska

autor

Wiczyński G.

• Politechnika Poznańska

Bibliografia

• [1] Hauser Jacek, Elektrotechnika podstawy elektrotermii i techniki świetlnej, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2006.
• [2] Cysewska–Sobusiak Anna, Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2010.
• [3] Praca zbiorowa, Pomiary termowizyjne w praktyce, Agenda wydawnicza PAKu, Warszawa 2004.
• [4] Rudowski Grzegorz, Termowizja i jej zastosowanie, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1978.
• [5] Karta katalogowa BAT54C, http://www.vishay.com/docs/85508/bat54.pdf, dostęp 9.02.2017.
• [6] Instrukcja obsługi Inkubator Laboratoryjny ILW TOP, ver. 1.0, Pol–Eko–Aparatura, sp. j.
• [7] Instrukcja kamery E50 prod. Flir, http://www.kameryir.com.pl, dostęp 9.02.2017.

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).