Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych

• Autorzy: Toczek W. , Kaczmarczyk-Mróz K.

Warianty tytułu

EN

Demonstrator of BIST for testing and diagnosis of fully differential circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono demonstrator testera wbudowanego, przeznaczony do pracy na stanowisku dydaktycznym w laboratorium z przedmiotu Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z technologią BIST (ang. Built-In Self-Test), która jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.

EN

A demonstrator of Built-In Self-Tester (BIST) for testing and diagnosis of fully differential circuits is presented. The demonstrator works on the educational stand in the Laboratory of Advanced Measurement and Diagnostic Methods, where students are familiarized with BIST technology, which is an example of implementation of Design-for-Test strategy. In the BIST, a testing method is applied, which employs the excitation of the circuit under test by a common-mode signal. Fault location is performed with use of a fault dictionary. Laboratory tasks include: fault detection, analysis and validation of diagnostic method, fault dictionary construction, fault location and calculation of test quality metrics. Students evaluate test quality metrics using a probabilistic approach to the analysis of measurement process in accordance with guidance provided by the Joint Committee for Guides in Metrology (JCGM) in “Evaluation of measurement data – The role of measurement uncertainty in conformity assessment” JCGM 106: 2012.

Słowa kluczowe

PL

ocena zgodności wyrobów; testery wbudowane BIST; diagnostyka uszkodzeń

EN

conformity assessment; built-in self-test; fault diagnosis

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 60, nr 2
• Strony: 98--100
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., schem., tab., wykr., wzory

Twórcy

autor

Toczek W.

• Politechnika Gdańska, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

autor

Kaczmarczyk-Mróz K.

• SILED Sp. z o. o., Grupa Techno-Sevice S.A., ul. Benzynowa 19, 83-011 Gdańsk

Bibliografia

• [1] Sun Y.: Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and RF Integrated Circuits. The system on chip approach, The Institution of Engineering and Technology, London, 2008.
• [2] Czaja Z.: Realizacja samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A, Materiały konferencyjne VI Kongresu Metrologii, Kielce-Sandomierz, s. 321-322, 2013.
• [3] Toczek W.: Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation, Microelectronics Reliability, vol. 48, nr 11-12, s. 1890-1899, 2008.
• [4] Evaluation of measurement data – The role of measurement uncertainty in conformity assessment. BIPM JCGM 106:2012
• [5] Toczek W.: Ryzyko ponoszone przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów, Pomiary Automatyka Kontrola, vol. 58, s. 1061-1064, 2012.