Komputeryzacja topograficzej oceny powierzchni

• Autorzy: Chmielik P , Czarnecki H.

Warianty tytułu

EN

Computerization of topographic surface assessment

• Konferencja: XVI Międzynarodowa Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji, Jurata, 14-18 maja 2012
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule scharakteryzowano zagadnienia topograficznej oceny powierzchni i przedstawiono zastosowanie systemu komputerowego Ultra Surface do sterowania pomiarami na profilografometrze New Form Talysurf 2D/3D 120 firmy Taylor Hobson. Ponadto zaprezentowano aplikację TalyMap Platinum 5.1.1. do analizy podstawowych parametrów topografii powierzchni w układzie 2 D i 3D.

EN

The article describes the problems of topographic surface assessment and presents the application of the Ultra Surface computer system for controlling measurements taken on a New Form Talysurf 2D/3D 120 profilographometer by Taylor Hobson. The TalyMap Platinum 5.1.1. application designed for the analysis of basic surface topography parameters in the 2D and 3D systems is also presented.

Słowa kluczowe

PL

metrologia; topografia powierzchni; wspomaganie komputerowe

EN

metrology; surface topography; computer aiding

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 85, nr 7CD
• Strony: 133--142
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Chmielik P

• Taylor Hobson Polska

autor

Czarnecki H.

• Politechnika Częstochowska Instytut Technologii Mechanicznych

Bibliografia

• [1] Adamczak S.: Pomiary geometryczne powierzchni. Zarys kształtu falistość i chropowatość, WNT, Warszawa 2008.
• [2] Adamczak S., Makieła S.: Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników, ćwiczenia praktyczne, WNT, Warszawa 2010.
• [3] Archard J.F.: Single contacts and multiple encounters, J. Appl. Phys., 32, 1961 pp. 324-331.
• [4] Chmielik I., Tubielewicz K.: Pomiary parametrów struktury powierzchni po nagniataniu w ujęciu 2D i 3D. Postęp w metrologii współrzędnościowej, Wyd. ATH w Bielsku-Białej, S. Monografie Bielsko-Ustroń 2010.
• [5] Czarnecki H., Chmielik I. P.: Mikrogeometria powierzchni po wybranych metodach nagniatania w układzie 3D, XIV Krajowa i V Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Metrologia w Technikach Wytwarzania, 12-14 września 2011, Warszawa – Pułtusk, materiały konferencyjne, s. 40-45.
• [6] Czarnecki H., Tubielewicz K., Ucieklak S.: Skomputeryzowanie pomiarów i analizy profilu powierzchni ma profilometrze ME 10. Metrologia w technikach wytwarzania, t. 1, Kraków 2003.
• [7] Kaczmarek J., Klimczok T.: Dwu- i trójwymiarowa charakterystyka mikronierówności powierzchni, Zagadnienia Eksploatacji Maszyn, 1, 1986 s. 39-46.
• [8] Pawlus P.: Topografia powierzchni pomiar, analiza, oddziaływanie, Politechnika Rzeszowska, 2005.
• [9] Oczoś K.E., Liubimov V.: Analiza układzie 3D struktury geometrycznej powierzchni szlifowanych, Mat. XXI Naukowej Szkoły Obróbki Ściernej, Warszawa 1998.
• [10] Wieczorowski M., Cellary A., Chajda J.: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni, czyli o chropowatości i nie tylko, Wyd. M-druk, Poznań 2003.
• [11] ISO/TC 213 Geometrical product specifications (GPS) – Surface texture: Areal – Part 3: Specification operators.
• [12] ISO/TC 213 Geometrical product specifications (GPS) – Surface texture: Areal – Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters.
• [13] PN-EN-ISO 13565-2 Specyfikacja geometrii wyrobów – Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych – Opis wysokości za pomocą linearyzacji krzywej udziału materiałowego.