Nowa metoda charakteryzacji dielektryków w paśmie częstotliwości subterahercowych

• Autorzy: Godziszewski K. , Yashchyshyn Y.

Identyfikatory

DOI

10.15199/59.2018.6.81

Warianty tytułu

EN

New method for dielectric characterization in sub-terahrtz frequency range

• Konferencja: Krajowa Konferencja Radiokomunikacji, Radiofonii i Telewizji (20-22.06.2018 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono nową metodę charakteryzacji materiałów dielektrycznych w paśmie subterahercowym. Opracowana metoda bazuje na szerokopasmowym pomiarze zespolonego współczynnika fali stojącej (ZWFS). Zaproponowany współczynnik ZWFS pozwala na określenie części rzeczywistej przenikalności elektrycznej i tangensa kąta stratności bez informacji o grubości próbki materiału poddawanego badaniom. Przeprowadzona analiza teoretyczna oraz wyniki badań eksperymentalnych potwierdzają słuszność przyjętej koncepcji pomiaru.

EN

A new method for characterization of dielectrics in the sub-terahertz frequency range is presented. This method makes it possible to characterize every dielectric by using only the measured complex reflection coefficient without accurate information about the thickness of dielectric sample. The mathematical model of the method is formulated. Finally, results of measurements for two different dielectrics are presented.

Słowa kluczowe

PL

charakterystyka materiału; zespolona przenikalność elektryczna; zakres subterahercowy

EN

characterization of materials; complex permittivity; sub-terahertz range

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Telekomunikacyjny + Wiadomości Telekomunikacyjne
• Rocznik: 2018
• Tom: nr 6
• Strony: 501--504, CD
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Godziszewski K.

• Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki i Technik Multimedialnych, ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa

autor

Yashchyshyn Y.

• Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki i Technik Multimedialnych, ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa

Bibliografia

• [1] Chen L. F., C. K. Ong, C. P. Neo, V. V. Varadan, V. K. Varadan. 2004. "Microwave Electronics: Measurement and Materials Characterization"
• [2] Godziszewski Konrad. 2017. "Charakteryzacja materiałów dielektrycznych w zakresie częstotliwości subterahercowych"
• [3] Naftaly M. 2013. "Metrology Issues and Solutions in THz Time-Domain Spectroscopy: Noise, Errors, Calibration". IEEE Sensors Journal. 13 (1): 8-17
• [4] Varadan V. V., R. D. Hollinger, D. K. Ghodgaonkar, V. K. Varadan. 1991. "Free-space, broadband measurements of high-temperature, complex dielectric properties at microwave frequencies". IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 40 (5): 842-846
• [5] Yashchyshyn Yevhen, Józef Modelski. 2015. "Radioelektronika terahercowa - oczekiwania, możliwości i ograniczenia". Przegląd Telekomunikacyjny i Wiadomości Telekomunikacyjne. 2015 (4): 120-124

Uwagi

PL

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).