Metody filtracji cyfrowej w ocenie topografii powierzchni

• Autorzy: Tomkowski R. , Kapłonek W. , Kacalak W. , Łukianowicz C. , Lipiński D. , Cincio R.

Warianty tytułu

EN

Digital filtering methods in the assessment of surface topography

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Jedną z procedur odgrywających ważną rolę we współczesnej metrologii powierzchni jest filtracja cyfrowa. Jest ona realizowana za pomocą filtrów, stanowiących złożone narzędzia matematyczne przeznaczone do analiz charakterystyk szerokiej gamy powierzchni. W praktyce filtry stosowane są m.in. do tłumienia szumu, korekcji danych uzyskanych z aparatury pomiarowej oraz eksponowania ważnych, z punktu widzenia prowadzonych analiz, cech powierzchni. Dowodem na to, są ciągłe prace komitetu normalizacyjnego ISO, który opracowuje normy z grupy ISO 16610, dotyczące filtrów cyfrowych. W pracy przedstawiono przykładowe analizy topografii powierzchni technicznych z zastosowaniem specjalistycznego oprogramowania komputerowego TalyMap® oraz SPIP™. Przedstawiono również metodykę oceny topografii powierzchni w układzie 3D.

EN

One of the most important procedures in modern surface metrology is digital filtering. It is realized by many filters which are complicated mathematical tools for analysis of a wide variety of surface characteristics. In practice, filters are used among others for denoising, correcting the data obtained from measuring tools and displaying important characteristics of surfaces. The ISO committee is continuing works to develop the standards of the ISO 16610 group, concerning the digital filters. This group contains description of various filters, namely: linear profile filters (basic concepts – ISO/DIS 16610-20, spline filters - ISO/DIS 16610-22, spline wavelets – ISO/DIS 16610-29), morphological profile filters (basic concepts – ISO/DIS 16610-40, disk and horizontal line-segment – ISO/DIS 16610-41, scale space techniques – ISO/DIS 16610-49), robust areal filters (Gaussian regression filters – ISO/DIS 16610-71) and areal morphological filters (segmentation – ISO/DIS 16610-85). The paper presents examples of technical surface topography analysis using the specialized computer software TalyMap and SPIP. There is also proposed a methodology of assessing the surface topography in 3D

Słowa kluczowe

PL

filtrowanie; filtry cyfrowe; struktura geometryczna powierzchni; topografia powierzchni; parametry SGP

EN

filtering; digital filters; structure of the surface geometry; surface topography; parameters of surface texture

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 59, nr 6
• Strony: 507--510
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., schem., tab., wzory

Twórcy

autor

Tomkowski R.

• Politechnika Koszalińska, Wydział mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej, ul. Racławicka 15-17, 75-520 Koszalin

autor

Kapłonek W.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Mechaniczny, Zakład Metrologii i Jakości, ul. Racławicka 15-17, 75-620 Koszalin

autor

Kacalak W.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej, ul. Racławicka 15-17, 75-620 Koszalin

autor

Łukianowicz C.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Mechaniczny, Zakład Metrologii i Jakości, ul. Racławicka 15-17, 75-620 Koszalin

autor

Lipiński D.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej, ul. Racławicka 15-17, 75-620 Koszalin

autor

Cincio R.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej, ul. Racławicka 15-17, 75-620 Koszalin

Bibliografia

• [1] Zieliński T. P.: Cyfrowe przetwarzanie sygnałów. Od teorii do zastosowań. Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa, 2005.
• [2] Pawlus P.: Topografia powierzchni. Pomiar, Analiza, Oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2005.
• [3] Wieczorowski M.: Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań, 2009.
• [4] Adamczak S.: Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu, falistość i chropowatość. Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa, 2008.
• [5] PN–EN ISO 11562:1998 Specyfikacje geometrii wyrobów – Struktura geometryczna powierzchni – Metoda profilowa – Charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcją fazy.
• [6] PN–EN ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów – Struktura geometryczna powierzchni – Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.
• [7] Lyons R. G.: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów. Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa, 1999.
• [8] Janecki D.: A generalized L2-spline filter. Measurement, 42/6, 937-943, 2009.
• [9] PN–EN ISO 13565–1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów – Struktura geometryczna powierzchni – Metoda profilowa – Po-wierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych – Filtrowanie i ogólne warunki pomiaru.
• [10] Mainsah E., Greenwood J. A., Chetwynd D. G.: Metrology and Properties of Engineering Surfaces. Springer Science+Business Media, Dordrecht, 2001.
• [11] ISO/FDIS 25178–2:2011(E) Geometrical product specifications (GPS) – Surface texture: Areal – Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters.